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上海顶策科技有限公司(Topictest)推出的TH801,智能在线监控动态老化设备,可以监控的参数除了整板的电压,电流,还可以根据需求,监控到老化中每颗芯片的电压、电流,寄存器数据,时间,频率等诸多参数,并实时记录保存成Excel文档。这样不仅可以确保每颗芯片都处于正常的老化状态,保证老化测试的质量,同时还可以清楚地知道具体失效的参数,以及在什么时间点失效等诸多信息,非常有益于失效后的FA分析。另外由于可以监控更多芯片参数,这使得免除ATE回测成为可能,这将大幅度提高老化测试效率,节省更多人力成本!这项技术目前已在对芯片质量要求较高的芯片设计公司广泛应用。上海顶策科技有限公司可靠性测试部,提供芯片可靠性测试整体解决方案。黄浦区HTOL测试机推荐
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上海顶策科技TH801智能老化系统,随时导出测试数据,简化可靠性测试溯源问题。黄浦区HTOL测试机推荐
在每个时间点读点过程为:将闪存参考单元的输出电流iref与闪存阵列单元的输出电流i的差值经由读出放大器进行比对判断,若iref<i,则闪存读出“1”;若iref>i,则闪存读出“0”。与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:本发明所提供的闪存htol测试方法,对所述闪存参考单元循环进行编译和擦除,以在所述闪存参考单元中引入电子;对所述闪存进行htol测试,所述引入电子在所述htol测试过程中存在丢失,以对htol测试过程中所述空穴的丢失形成补偿。降低了闪存参考单元的输出电流iref的偏移量,从而使闪存htol读“0”通过,解决了闪存htol测试中读点失效的问题,提高闪存质量。附图说明图1为本发明实施例的闪存htol测试方法流程图;图2为本发明实施例的闪存参考单元的结构示意图;图3为本发明实施例的对闪存参考单元进行编译示意图;图4为本发明实施例的对闪存参考单元进行擦除示意图;图5为本发明实施例的闪存参考单元未经过编译和擦除直接进行htol测试的输出电流iref分布图;黄浦区HTOL测试机推荐
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