黑体光电测试系统方案
MRW-8电动靶轮是用于测试EO成像系统的模块之一,能够在平行光管的焦平面上自动交换有效靶标,采用8孔靶轮(支持其他靶孔数量),其表面涂有黑色高发射率涂层(发射率至少为0.97),一侧连接到CDT平行光管,另一侧连接到辐射源(TCB黑体、DCB多色黑体、DAL/SAL光源)。标准旋转靶轮的定位不确定度低于0.15mm,还可定制不确定度为0.05mm的靶轮。MRW-8提供多种版本。主要标准是:控制方法、定位精度、圆孔数量。型号中的三个字母用于描述MRW-8靶轮的版本。MRW-8BBB:通过外部控制器使用PC软件控制,有8个圆孔。Inframet DT 热成像光电测试系统,精细分析,助力医疗行业技术革新。黑体光电测试系统方案
TAIM可以对不超过120mm的光学瞄准镜和热夹钳提供扩展的测试和视线。可以使用对从电子输出捕获的图像或从被测设备的显示器捕获的图像进行分析来执行测试。
总测试功能:1.蕞小可分辨温差MRTD测量2.图像偏转角度和热像仪夹像旋转测量3.屈光度调节范围、目镜度数和屈光度刻度精度测量4.在电子输出和光学输出(显示器)上测量MTF,NETD,FPN,非均匀性,FOV,失真,放大倍数。注意:噪声参数只在电子输出端测量。
选配:1.检查从无限远对焦到短距离对焦是否有图像偏移 黑体光电测试系统方案光电测量,助力地质勘探,精确解析岩层结构。
ST测试系统使用一系列不同的靶标来投影标准靶标图形到被测试的短波红外相机,短波红外相机生成畸变的靶标图像由计算机采集并由人眼主观或者软件来计算得到短波红外相机的重要参数。
ST测试系统包括了反射式平行光管,带宽光源,中温黑体,旋转靶轮,一组靶标,一组滤波片,PC,图像采集卡以及测试软件组成。
特征:一、支持模拟三种不同的情况:1)反射多色辐射结构(系统采用SAL光源);2)发射辐射配置(系统采用MTB中温黑体);3)单色光源配置(SAL光源配置带通滤波器)。二、支持测试光学口径不大于100mm短波红外相机;三、支持模拟很暗的夜晚环境以及很亮的白天环境;四、支持模拟目标的温度可达600oC;五、模块:CDT1000平行光管,SAL光源,MTB-2D中温黑体,MRW-8旋转靶轮,一组靶标,1550nm带通滤波片,图像采集卡,MTB控制程序,SAL控制程序,TAS-S程序;
在国际市场提供的典型面源黑体(包括Inframet提供的TCB/MTB黑体)被优化,以模拟在常用的红外辐射光谱带中的黑体目标:约1μm至约15μm。这种黑体的发射面的高发射率是通过温度受控的金属板,与其涂覆的高吸收性涂料薄层来实现。由于这种黑体的发射率在波长约0.1mm处开始下降,并且在波长超过约1mm变得非常低,所以典型的面源黑体不能用于模拟THz带(0.1mm至1mm)和亚THz带(1mm至10mm的波长)的黑体目标温度。在典型的红外黑体中使用的高辐射率涂层对于太赫兹光学辐射而言变得部分半透明,特别是在长波处大约0.5mm。由于以下几个原因,太赫兹区域黑体的设计是一个技术挑战:a)需要THz/短波频谱带中高吸收率涂层的发射体以确保高发射率;b)由于THz/微波成像仪的低分辨率,所以需要大面积的黑体;c)需要很高的温度均匀性、温度稳定性和准确度,以便能够对THz/微波传感器进行准确校准。Inframet MS多传感器测试系统,助力石化行业安全生产。
OPO测试系统为计算机化的系统,用于对被测望远瞄准系统生成的参考图像进行分析。OPO测试系统由以下模块组成:TG-OP目标发生器,CTG控制器,一组靶标,一组圆孔,CPO10100投射式平行光管,MP-A机械平台,MP-B机械平台,MP-C平台,DPM66屈光度计,计算机,图像采集卡,一组孔径调节器以及TOPO测试软件。
产品参数如下
表1被测光学系统范围
参数:数值
入射口径范围:10-60mm
出射口径范围:2-60mm
放大率范围:-30x
表2测试调节范围
参数:数值
模拟距离50m,100m,200m,250m,300m,400m,600m,∞
离轴角范围:0°-30°
光电测量,为体育用品质量检测提供坚实保障。黑体光电测试系统方案
光电系统应用于物流,提升包裹分拣准确性。黑体光电测试系统方案
InframetLS-SAL多通道宽波段可见光-短波红外光源适用于VIS-SWIR相机,有五种工作模式:1)色温是2856K的卤素,适用于VIS-SWIR波段;2)色温超过5000K的白色宽带LED,适用于可见光;3)混合模式,卤素灯和白色宽带LED按照一定光强比例工作;4)校准单色1550nm光源;5)校准短波红外光源。其次,LS-SAL光源配备一套滤波片,当工作在卤素灯模式时,可用于选择所需的波段。
基础工作模式
①卤素灯-无滤光片②可见光LED③混合模式,卤素灯和白色宽带LED④带1550nm窄带滤光片的卤素灯⑤只带短波红外滤光片的卤素灯 黑体光电测试系统方案
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