上海pl检测系统厂家

光伏组件是光伏电站发电的元器件，为了光伏电站发电量正常运行，需要对光伏电站元器件组件进行检查和维护。光伏组件常见的问题有：热斑、隐裂和功率衰减。由于这些质量问题隐藏在电池板内部，或光伏电站运营一段时间后才发生，在电池板进场验收时难以识别，需借助专业设备进行光伏组件检测。单晶硅组件是目前所有组件类别中光电转换率比较高的一种。单晶硅采用钢化玻璃以及防水树脂进行封装，坚固耐用，使用寿命一般可达25年。从外观上看，单晶硅电池片的四个角呈现圆弧状，表面没有花纹。上海欧普泰科技创业股份有限公司是一家专业提供检测的公司，欢迎您的来电！上海pl检测系统厂家

对于整体组件在封装成后，如何把控质量与技术呢?这就会出现各种各样的问题。目前，组件质量的把控能力，主要通过样品的测试结果来反映。组件的发电量会根据接受的辐照度呈现不规则线性变化。通过低辐照度下电性能测试，可以有效了解产品是否适合在日照条件较差的地区使用。由于组件老化、缺陷或者环境遮蔽会导致过热现象。通过热斑测试，可以确定组件耐热斑热效应的能力。在温度较高地区容易出现由于接地条件差异和电势差导致的性能衰减。通过PID电致衰减测试，可以研究组件及系统电势对组件性能衰减的影响。在保证零部件可靠性的同时，组件的密封性能将直接影响封装在组件的使用寿命。通过EVA剥离强度测量，定量测量组件封装强度，可有效避免因封装工艺的缺陷导致的损失。无论封装技术如何发展，都必须保证玻璃与EVA之间的剥离强度不能低于40N/CM。否则，组件的可靠性将成为比较大的问题。上海pl检测系统厂家检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，有需要可以联系我司哦！

上海欧普泰科技创业股份有限公司光伏组件性能的检测光伏电站运行一段时间后，需要进行检测，来确定光伏电站的性能。涉及光伏组件的，主要包含以下项目。1、功率衰减测试光伏组件运行1年和25年后的衰减率到底有多少？25年太久，现在可能还没有运行这么长时间的电站。按国家标准，晶硅电池2年的衰减率应该在3.2%以内。但目前这个数据还真的很难说，原因有三：1）光伏组件出场功率是用实验室标准光源和测试环境标定的，但似乎国内不同厂家的标准光源是存在一定的差异的。那在A厂标定的250W的组件，到了B厂，可能就是245W的组件的。2）现场检测所用的仪器精确度较差，据说5%以内的误差都是可以接受的。用误差5%的仪器，测2%（1年）的衰减，难度有些大，结果也令人怀疑。

光伏组件背板由空气面从内至外分别为：内面保护层、粘结层、支撑层PET膜、粘结层、内氟膜保护层。1、内层氟膜保护层：因内层不与户外大气环境直接接触，接触正面太阳光的辐照，因此对内层的使用要求不如空气面保护膜那么严苛。2、PET支撑层：主要起机械支撑作用和隔绝水汽和氧气作用；不因在水汽、氧气和高低温作用加速降解或开裂而失去应有的支撑和保护作用。3、挪亚光伏检测李工解释：粘结层主要是将氟膜层和PET层粘结在一起，不因水汽、高温等作用而弱化粘结作用，并终导致氟膜层与PET层的脱离而失去氟膜层应有的保护作用。4、空气面氟膜保护层，起作用主要是保护PET支撑层不受紫外、风沙侵蚀，弱化PET降解速度，以保证作为光伏组件的“心脏”晶硅组件的高效运行。上海欧普泰科技创业股份有限公司为您提供检测，有需求可以来电咨询！

给晶硅组件施加电压后，所激发出的电子和空穴复合的数量越多，其发射出的光子也就越多，所测得的EL图像也就越亮；如果有的区域EL图像比较暗，说明该处产生的电子和空穴数量较少，该处存在缺点；如果有的区域完全是暗的，该处没有发生电子和空穴的复合，也或者是所发光被其它障碍所遮挡，无法检测到信号。隐裂种类虽然众多，但不是所有的隐裂都会对电池片有影响。在组件生产、运输、安装和维护过程中，考虑到晶硅组件的易裂特征，需要在安装电站的各个过程注意并改进作业流程，尽量减少组件隐裂的产生。对于检测隐裂，目前EL是的方法。而导致组件隐裂的原因众多，要弄清楚原因后再追究责任，不能盲目听信他人之言。检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，用户的信赖之选，有需求可以来电咨询！山东电池片检测系统价格

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缺点种类一：黑心片EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑域，该部分没有发出1150nm的红外光，故红外相片中反映出黑心，此类发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。缺点种类二：黑团片多晶电池片黑团主要是由于硅片供应商一再缩短晶体定向凝固时间，熔体潜热释放与热场温度梯度失配导致硅片内部位错缺点。缺点种类三：黑斑片黑斑片一般是由于硅料受到其他杂质污染所致。通常少数载流子的寿命和污染杂质含量及位错密度有关。黑斑中心区域位错密度>107个/cm2，黑斑边缘区域位错密度>106个/cm2均为标准要求的1000～10000倍这是相当大的位错密度。缺点种类四：短路黑片缺点种类五：非短路黑片电池片黑片有两种，全黑的我们称之为短路黑片，通常是由于焊接造成的短路或者混入了低效电池片造成的。而边缘发亮的黑片我们称之为非短路黑片，这种电池片大多产生于单面扩散工艺或是湿法刻蚀工艺，单面扩散放反导致在背面镀膜印刷，造成是PN结反，也就是我们通常所说的N型片，这种电池片会造成IV测试曲线呈现台阶，整个组件功率和填充因子都会受到较大影响。上海pl检测系统厂家