南京手机射频测试标准

时间:2023年08月30日 来源:

射频技术(RF)是Radio Frequency的缩写。较常见的应用有无线射频识别(Radio Frequency Identification,RFID),常称为感应式电子晶片或近接卡、感应卡、非接触卡、电子标签、电子条码等。其原理为由扫描器发射一特定频率之无线电波能量给接收器,用以驱动接收器电路将内部的代码送出,此时扫描器便接收此代码。接收器的特殊在于免用电池、免接触、免刷卡故不怕脏污,且晶片密码为世界独有无法复制,安全性高、长寿命。RFID的应用非常广,典型应用有动物晶片、汽车晶片防盗器、门禁管制、停车场管制、生产线自动化、物料管理。射频测试探针主要应用场景:射频和微波模块信号检测和输出;高频电路板电气性能分析;高速数字电路分析。南京手机射频测试标准

射频

射频测试会面临哪些趋势和挑战呢?MIMO采用多信号传输和接收将频谱效率带到了一个新的水平,然而,更高的频谱效率意味着更复杂的系统。比如说WiMAX系统,采用了正交频分复用(OFDM)来实现多种符号的并行传输。从SISO到MIMO的转变让测试工程师面临许多值得注意的新挑战。复杂的MIMO 和OFDM带来的个挑战是测试仪器可以支持的空间流(spatial streams)的数量。比如说,WLAN和LTE都支持四路空间流,而目前的WiMAX 使用Matr ix A 和Matrix B两路空间流。接收机测试的挑战是将混合在一起的信号分解成多路的单独信号或码流。然而,比较大的挑战还是同步。传输多路信号需要在多个信道之间实现相位和采样对准(sampling alignment)的精确同步。这意味着信号分析仪和信号发生器必须进行精确的同步,来实现精确的和可重复的测量。南昌蓝牙射频测试仪射频功率的测量方法有:频谱分析仪测量、吸收式功率测量、吸收式功率测量等。

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为什么要进行射频测试?监管机构要求进行射频测试,以确保现有设备不会受到新设备的干扰,并证明新设备对现有射频环境具有抵抗力。此外,RF测试有助于评估产品发出的辐射,这些辐射也必须在可接受的范围内才能获得监管合规性。什么是射频(RF)?射频或"RF" 能量是电磁能的一种形式,被定义为由发射天线发射的电能和磁能(无线电波)在空间中一起移动的波。射频(RF)测试模拟无线电和电信设备的功能和性能,以确保设备不仅会干扰无线电频谱的其他用户,还会验证无线电设备是否有效地使用无线电频谱。通常还需要其他测试来验证您的设备是否符合当地关于电磁兼容性(EMC)、电气安全和射频暴露的法规。

现代对于射频测试中圆晶探针的设计将测试信号从一个三维媒质(同轴电缆或矩形波导)转换到两维(共面)探针的接触上。这种操作需要对传输媒质的特性阻抗Z0进行仔细的处理,并且要在不同传播模式之间进行电磁能量的正确转换。虽然晶片探针的输入是一个标准化同轴或波导界面,但它的输出(探针极尖)则可以实现不同的设计概念。这些界面,特别是探针极尖,会将不连续性带入到测量信号路径中。这种不连续性本身会产生高阶传播模。因此,圆晶探针和DUT激励必须只能支持单个准-TEM传。射频测试性能包括发射/带内功率、调制一致性、带内杂散、发送频谱密度以及相位噪声等。

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射频测试是产品研发生产过程中保障其通信质量的关键测试。常见的通信射频检测技术有两种,一种是通信射频传导测试,即通过射频发射端口直接引出射频线缆连接测试仪器直接测量,也叫通信射频直连测试。一种是OTA(Over The Air)测试,是通信设备的无线电射频信号质量通过整机辐射的方式进行测试。 OTA(Over The Air)“空口测试”是由CTIA(Cellular Telecommunication and Internet Association)早制定的射频测试相关标准,与射频传导测试相比,OTA测试将被测件的射频模组、天线、外壳等作为一个整体,着重进行整机辐射/接收性能测试,测试结果更接近产品实际使用性能。主要包括有源和无源无线通讯产品的测试,测试项目包含:全向辐射功率(TRP)、全向接收灵敏度(TIS)、整机2D/3D辐射方向图、天线增益(Gain)、天线效率等。说起通信测试,绕不开底层的射频测试,越是底层,越是基础,也越是牵一发而动全身。湛江蓝牙耳机射频芯片测试

手机生产过程中使用的器件之间都是有差异的,如果这些差异超出标准范围那就视为不良品。南京手机射频测试标准

一个传统的射频测试探针包括了以下几个部分:测试仪器接口(同轴或是波导)从测试接口到微同轴电缆的转接微同轴电缆到平面波导(CPW/MS等)转接共面接口到DUT部分即针尖。其他一些相关的概念Probepitch:指的是针尖(ProbeTips)之间的间距,一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用,针尖间距一般都比较小。Probeskate:当你在Z轴方向往下“按压”探针时,当探针接触到DUT,它将在ZY平面弯曲移动。通常,这也是我们判断针是否扎上的一个现象。De-embeding:去嵌是在探针出现之前就有的技术,之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。南京手机射频测试标准

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