苏州智能音箱射频信号测试

时间:2023年09月12日 来源:

自动射频测试系统用于硬件模块和整机在生产或调试中测试,主要由射频仪器完成各模块在调试和生成工程中的综合指标测试工作。射频系统涉及的性能指标众多,测试方法复杂,人工手动测试往往存在效率低下,容易出错等问题。因此,自动测试系统如何尽可能地提高测试的自动化程度,减少人工干扰,提高产品测试的稳定性、可靠性和高效性也是测试平台需考虑的重要因素。测试数据管理也是本平台需重点关注的方面。由于不同的被测件,不同的测试指标势必会产生大量不同类型的测试数据,如何对这些测试数据进行有效管理,方便用户对测试数据进行分析与挖掘,也是平台设计时需考虑的关键点。手机生产过程中使用的器件之间都是有差异的,如果这些差异超出标准范围那就视为不良品。苏州智能音箱射频信号测试

射频

在产品严重同质化的现在,研发和生产阶段的精确射频测试是保障品质的重要手段。除了从设计上寻求突破,产品品质也是各大厂商的另一个关注重点,具体到射频硬件部分,研发和生产阶段的精确射频测试是保障品质的重要手段。 发射功率是手机发射机测试的重要指标之一,存在两面性,一方面手机需要发射足够高的功率以保证通信质量,另一方面在保证通信质量的前提下,发射功率越低越好,换言之,手机的发射功率需要根据实际情况被精确控制。接收灵敏度是接收机测试重要指标之一,也是衡量接收机接收能力的重要体现,必须精确测试。杭州234G射频信号测试频射无处不在,不管是WI-FI、蓝牙、GPS、NFC(近距离无线通信)等等,都需要频射。因此需要射频测试。

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射频测试有哪些应用呢?如BLE作为手机的标配,也进而带动了周边设备的发展,像TWS耳机、智能手环、蓝牙鼠标等广泛应用在各个行业。不同厂家设计的BLE产品能否兼容,其中非常重要的一个点就是互操作性。两个BLE设备间能够可靠稳定工作,一方面取决于应用层协议规范的兼容,还有一个特别重要的影响因素就是射频性能,包括发射功率、带内功率、调制一致性、载波频率偏移和漂移、带内杂散、发送频谱密度以及相位噪声等,其对用户的直观影响就是通讯距离短和是否掉线,进而影响用户体验。因此在研发和生产过程中需要对在研产品的射频性能进行测试,以保证其无线指标符合蓝牙射频规范的要求。

在新兴无线通信技术和电子技术不断涌现的现在,射频测试行业正呈现出两个比较重要的趋势:模块化和软件定义。电子技术的快速发展对测试仪器提出了更高的要求,包括更多功能、更易操作、更高吞吐量和更具成本效益等。面对如此综合的测试对象和复杂的测试需求,必须要有一个很综合的系统去进行测试,而模块化仪器就是这样的系统。模块化测试平台提供了更快的测试时间和更低的投入成本。使用基于PXI(面向仪器系统的PCI 扩展)的模块化仪器系统,用户可以根据需要先选择各种模块,继而通过软件配置它们,终完成特定的测量任务。射频测试中的常见指标:接收灵敏度、信噪比、发射功率等等。

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蓝⽛耳机、音箱、智能控制、智能穿戴竞争越发激烈,用户对产品用户体验的不不断提⾼。而搜索配对慢、掉线频繁、音乐、通话卡顿和距离等通信问题**影响⽤户体验。为了避免⽣产中有通信问题的产品流到消费者,以及持续改善产品通信性能,我们推出了通信(射频)性能⽣产线⾃动测试系统。本系统基于N4010A蓝⽛通信综测仪开发;仪器准确可靠,测试结果准确可靠,认可度高。一台仪表带四个工位设计,一个操作员同时操作四个工位,将提高仪表利用率。
产 品 特 点

1.中英⽂界⾯,操作简单易⽤;

2.支持BasicRate的所有测试项⽬;

3.测试快速稳定,推荐配置(输出功率、频率偏置、灵敏敏度)8-12s即可完成测试;

4.可以配置不同产品模板,快速切换⽣产;

5.测试数据EXCEL表格保存,结果分析追溯简便;

6.支持MES系统对接,生产质量实时可追溯可控;

7.兼容安立N4010A、MT8852B、R&SCMW500、CMW270、CMW100、IQXEL;

8.可对产品进行如蓝牙名称、版本、模组、电量等自动检测、频偏校正、PCBA电压电流;

9.完全⾃自主开发,提供定制化服务;

10.只需更更换治具即可快速切换PCBA、成品测试;

11.支持高通/CSR、瑞昱、络达、恒玄BES、中星微、原相、博通、中科蓝讯、杰理等方案。 射频前端是手机的关键器件,直接影响着手机的信号收发。江西手机射频测试公司

射频测试探针通常与具有高口径定位机制或电子器件的探测设备一起使用。苏州智能音箱射频信号测试

一个传统的射频测试探针包括了以下几个部分:测试仪器接口(同轴或是波导)从测试接口到微同轴电缆的转接微同轴电缆到平面波导(CPW/MS等)转接共面接口到DUT部分即针尖。其他一些相关的概念Probepitch:指的是针尖(ProbeTips)之间的间距,一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用,针尖间距一般都比较小。Probeskate:当你在Z轴方向往下“按压”探针时,当探针接触到DUT,它将在ZY平面弯曲移动。通常,这也是我们判断针是否扎上的一个现象。De-embeding:去嵌是在探针出现之前就有的技术,之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。苏州智能音箱射频信号测试

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