中山精密SPI检测设备技术参数
SPI技术主流:1.基于激光扫描光学检测2.基于摩尔条纹光学检测SPI市场主流:激光扫描光学检测,摩尔条纹光学检测为主SPI应用模式:当生产线投入使用全自动印刷机时:1.桌上型离线用:新产品投产时1-20片全检;进入量品连续检查5片;2.连线型全检用:杜绝不良锡膏印刷进入SMT贴片机;3.连线印刷闭环;连线三点联网遥控;锡膏中助焊剂的构成及其作用助焊剂的作用①清洁作用→去除表面氧化膜②再氧化防止作用→防止再氧化发生③降低表面张力作用→在无铅焊接中助焊剂的效果不明显SMT整线设备中AOI的作用随着PCB产品向着超薄型、小组件、高密度、细间距方向快速发展。中山精密SPI检测设备技术参数
8种常见SMT产线检测技术(2)5.AOI自动光学检查AOI自动光学检测,利用光学和数字成像技术,采用计算机和软件技术分析图像而进行自动检测的一种新型技术。AOI设备一般可分为在线式和离线式两大类。AOI通过摄像头自动扫描PCB,采集图像,测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较,经过图像处理,检查出PCB上缺陷:缺件、错件、坏件、锡球、偏移、侧立、立碑、反贴、极反、桥连、虚焊、无焊锡、少焊锡、多焊锡、组件浮起、IC引脚浮起、IC引脚弯曲,并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来,供维修人员修整。6.X射线检测(简称X-ray或AXI)X-Ray检测是利用X射线可穿透物质并在物质中有衰减的特性来发现缺陷,主要检测焊点内部缺陷,如BGA、CSP和FC中Chip的焊点检测。X射线检测是利用X射线具备很强的穿透性,能穿透物体表面的性能,看透被检焊点内部,从而达到检测和分析电子组件各种常见的焊点的焊接品质。X-Ray检测能充分反映出焊点的焊接质量,包括开路、短路、孔、洞、内部气泡以及锡量不足,并能做到定量分析。X-ray检测较大特点是能对BGA封装器件下面的焊点缺陷,如桥接、开路、焊球丢失、移位、钎料不足、空洞、焊球和焊点边缘模糊等内部进行检测。中山多功能SPI检测设备服务PCBA工艺常见检测设备SPI检测。
使用在线型3D-SPI(3D锡膏检测机)的重要意义:在SMT行业内,IPC610标准有着较广的指导性,该标准对锡育印刷工业中各项技术参数指标有着明确的定义,包括:锡膏的平均厚度、偏移置、覆盖焊盘的百分比、桥连等。进一步来说,IPC610标准对于锡膏印刷工艺的质量标准的定义是非常细致、且是用数字或百分比量化的。基于图像识别技术的自动光学检测(AOI)技术己在SMT行业得到了较广应用,己成为SMT生产企业标准化的质设控制工具。但对于锡膏印刷环节而言,AOI因为其只能获取PCB的2D图像信息,不能对锡膏的厚度、高度拉尖和体积进行检测,所以AOI不能完全有效控制和真实反应出锡膏印刷环节的质量。有很多电路板生产企业在使用AOI的同时,会使用离线锡膏检测机,对锡膏印刷进行抽检。然而,锡膏印刷状态并不是一个平稳且变化呈现规律性;锡膏印刷相关的不良是不规则产生的。使用AOI结合离线锡育测厚仪不能真实的记录锡膏的状态,不能100%完全有效拦截住锡膏印刷中发生的不良。只有我们实时监控印刷机的状态,才能明显减少SMT工艺中的不良率,优化印刷工艺能提高SMT工艺的品质,达到较高的良率水平。
在SPI技术发展中,科学家们发现莫尔条纹光技术可以获得更加稳定的等间距,平行条纹光,从而极大提高高精度测量中的稳定性,韩国科漾(高永)SPI率先采用新的技术-莫尔条纹光技术,经市场的反复的验证,莫尔条纹光在高精度测量领域有着独特的技术优势。全球首先开发SPI开发商美國速博Cyberoptical已将原来的激光技术改良为莫尔条纹光(光栅)技术。早期美國速博Cyber-OpticalSPISE-300采用激光条纹光技术,Cyber-Optical产品QX-500,已由激光改良为的白色选通照明装置(即莫尔条纹/光栅)。设备通常具备自动检测和配置功能。
SPI在市面上常见的分为两大类,主要区分为离线式锡膏检查机和在线型锡膏检测机。设备大部分均采用3D图像处理技术,3D锡膏检查机能通过自动X-Y平台的移动及激光扫描SMT贴片锡膏焊点获得每个点的3D数据,同时也可用来测量整个焊盘贴片加工过程中施加锡膏的平均厚度,使SMT贴片加工锡膏印刷过程能够良好受控3DSPH采用程序化设计方式,同种产品一次编程成功,可以无限量扫描,速度较快。而2D锡膏检查设备只是测量锡膏上的某一条线的高度,来依据整个焊盘的锡膏厚度。其工作原理是激光发射器发射出来的激光束照射到PCB、铜和锡膏三个不同平面上,依靠不同平面反射回来的激光亮度值换算出锡膏的相对高度。由于2DSPI是点扫描方式,锡膏拉尖或者锡膏斜面都会导致锡膏厚度的测量结果不准确。2DSPI多采用手动旋钮来调整PCB平台来对正需要测量的锡膏点,速度较慢。在线SPI设备在实际应用中出现的一些问题有哪些呢?佛山在线式SPI检测设备功能
应用于结构光3DSPI、3DAOI检测的结构光投影模块主要采用DLP或LCoS。中山精密SPI检测设备技术参数
光电转化摄影系统指的是光电二极管器件和与之搭配的成像系统。是获得图像的”眼睛”,原理都是光电二极管接受到被检测物体反射的光线,光能转化产生电荷,转化后的电荷被光电传感器中的电子元件收集,传输形成电压模拟信号二极管吸收光线强度不同时生成的模拟电压大小不同,依次输出的模拟电压值被转化为数字灰阶0-255值,灰阶值反映了物体反射光的强弱,进而实现识别不同被检测物体的目的光电转化器可以分为CCD和CMOS两种,因为制作工艺与设计不同,CCD与CMOS传感器工作原理主要表现为数字电荷传送的方式的不同CCD采用硅基半导体加工工艺,并设置了垂直和水平移位寄存器,电极所产生的电场推动电荷链接方式传输到模数转换器。而CMOS采用了无机半导体加工工艺,每像素设计了额外的电子电路,每个像素都可以被定位,无需CCD中那样的电荷移位设计,而且其对图像信息的读取速度远远高于CCD芯片,因光晕和拖尾等过度曝光而产生的非自然现象的发生频率要低得多,价格和功耗相较CCD光电转化器也低。但其非常明显的缺点,作为半导体工艺制作的像素单元缺陷多,灵敏度会有问题,为每个像素电子电路提供所需的额外空间不会作为光敏区,域而且CMOS芯片表面上的光敏区域部分小于CCD芯片中山精密SPI检测设备技术参数
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