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一种闪存htol测试方法,包括:提供待测闪存,所述闪存包括闪存参考单元和闪存阵列单元;所述闪存参考单元中捕获有空穴;对所述闪存参考单元循环进行编译和擦除,以在所述闪存参考单元中引入电子;对所述闪存进行htol测试,所述引入电子在所述htol测试过程中部分丢失,以对htol测试过程中所述空穴的丢失形成补偿。具体的,待测闪存在同一闪存芯片(die)中的不同区域分布有闪存参考单元和闪存阵列单元,闪存阵列单元用于存储数据,闪存参考单元用于提供参考阈值电压以区分闪存阵列单元的状态。提供的待测闪存在其生产工艺过程中易在闪存参考单元中捕获。引入)空穴,所述空穴在htol测试过程中存在丢失。图2为本发明实施例的闪存参考单元的结构示意图,怎样选择HTOL测试机哪家强上海顶策科技智能HTOL系统,通过监测数据,可实时发现问题并介入分析,大幅度提高HTOL效率。
芯片ATE程序开发及FT测试FT(FinalTest)是芯片在封装完成以后进行的*终的功能和性能测试,是产品质量控制*后环节,通过ATE+Handler+loadboard检测并剔除封装工艺和制造缺陷等生产环节问题的芯片。测试程序覆盖功能和全pin性能参数,并补充CP未覆盖的功能。服务内容:老化方案开发测试硬件设计ATE开发调试可靠性试验在要求点(如0、168、500、1000 hr)进行 ATE 测试,确定芯片是否OK, 记录每颗芯片的关键参数,并分析老化过程中的变化。
提供可靠性测试整体解决方案:可靠性设备,HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可靠性测试需求。自主研发在线实时单颗监测技术,通过监测数据,可实时发现问题并介入分析,大幅提高HTOL效率,节省更多时间、FA成本,让HTOL问题更容易分析,更有追溯性,让报告更有说服力,下游客户更放心。可靠性测试事业部提供可靠性测试整体解决方案,包括HTOL、LTOL、双85、HAST等可靠性设备,以及测试方案制定,PCB设计制作,测试实验,满足各类芯片可靠性测试需求。上海顶策科技有限公司自成立以来,已经为超过500家半导体公司提供高质、高效、低成本测试解决方案。
GJB548B-2015方法,否则采用额定工作电压S级**少时间有240h到120h共6个级别;B级**少时间160h到12h共10个级别;H级**少时间352h到80h共11级别;K级**少时间从700h到320h共6个级别。S级最低温度从125℃到150℃共6个级别;B级别最低温度从125℃到250℃;H级最低温度从100℃到150℃;K级最低温度从100℃到125℃。————————————————版权声明:本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章,遵循,转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接:。 上海顶策科技智能HTOL系统,自主研发在线实时单颗监测技术。长宁区HTOL测试机电话
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