USB测试眼图测量方案

时间:2023年06月11日 来源:

一般而言,生成眼图需要通过测量大量的数据,然后再从其中恢复得到。示波器测量眼图中,经过前期的数据采集,其内存中可以获得完整的数据记录。然后,利用硬件或者软件对时钟进行恢复或提取得到同步时钟信号,用此时钟信号与数据记录中的数据同步到每个比特,通过触发恢复的时钟,把数据流中捕获的多个1 UI(单位间隔,相当于一个时钟周期)的信号重叠起来,也即将每个比特的数据波形重叠,得到眼图。

从上面的形成原理图中可以看出,通过用恢复的时钟信号等间隔的触发数据记录中的信号,将这些截取到的单位UI波形叠加在一起,就形成了眼图 Q因子可以综合反映眼图的质量,Q因子越高,眼图的质量就越好,信噪比就越高。USB测试眼图测量方案

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对于眼图的概念,有以下几点比较重要:

眼图是波形的叠加:眼图的测量方法不是对单一波形或特定比特位置的波形参数进行测量,而是把尽可能多的波形或比特叠加在一起,这样可以看到信号的统计分布情况。只有差的信号都满足我们对于信号的基本要求,才说明信号质量是可以接受的。波形需要以时钟为基准进行叠加:眼图是对多个波形或bit的叠加,但这个叠加不是任意的,通常要以时钟为基准。

对于很多并行总线来说,由于大部分都有专门的时钟传输通道,所以通常会以时钟通道为触发,对数据信号的波形进行叠加形成眼图,一般的示波器都具备这个功能。 USB测试眼图测量方案密度优化的以太网眼图参数计算方法;

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如何不能定位问题,则还可以进一步分析,这时可以把8b10b译码打开,看有问题的波形对应的码型,观察问题波形与码型的相关性。如果还不能定位问题,则再进一步分析。这时把抖动趋势图显示岀来,

查看对应的抖动趋势图的变化。如果出现异常抖动趋势变化(这是非常常见的问题),则可确定是由于抖动引发的眼图问题。这个引发眼图问题的抖动的根源是哪里呢?在通道4接一个探头,查看怀疑的信号如开关电源信号,再观察抖动趋势图与电源纹波的一致性,如果同步变化,则可确定问题的根源是电源纹波过大,从而通过解决电源问题来解决眼图测试问题。

眼图中的“1”电平( top P)与“0”( base P )电平即是表示逻辑为1 或0 的电压位准值,实际中选取眼图中间的20% UI 部分向垂直轴投影做直方图,直方图的中心值分别为“1”电平和“0”电平。

眼幅度表示“1”电平信号分布与“0”电平信号分布平均数之差,其测量是通过在眼图位置附近区域(通常为零点交叉时间之间距离的20%)分布振幅值进行的。

眼宽反映信号的总抖动,即是眼图在水平轴所开的大小,其定义为两上缘与下缘交汇的点(Crossing Point)间的时间差。交叉点之间的时间是基于信号中的两个零交叉点处的直方图平均数计算而来,每个分布的标准偏差是从两个平均数之间的差值相减而来。

眼高即是眼图在垂直轴所开的大小,它是信噪比测量,与眼图振幅非常相似。 主信号眼图测量调顶信号调顶深度的方法及系统;

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抖动,描述了信号的水平波动,即信号的某特定时刻相对于其理想时间位置上的短期偏离,

示波器观测到的抖动如下图所示。图中为抖动大的眼图的交点,其直方图是一个像素宽的交点块投射到时间轴上的投影。理想情况下应该为一个点,但由于码元的水平波动,导致其形成了一个区域。

器件生成的固有抖动称为抖动输出。其主要来源可以分为两个:随机抖动(RJ)和确定性抖动(DJ),其中确定性抖动(Deterministic Jitter)又可以分为周期性抖动(Periodic Jitter)、占空比失真(Duty Cycle Distortion)、码间干扰(Inter-Symbol Interference)和串扰。DCD源自时钟周期中的不对称性。ISI源自由于数据相关效应和色散导致的边沿响应变化。PJ源自周期来源的电磁捡拾,如电源馈通。串扰是由捡拾其它信号导致的。DJ的主要特点是,其峰到峰值具有上下限。DCD和ISI称为有界相关抖动,Pj和串扰称为不相关有界抖动,而RJ称为不相关无界抖动。另外,抖动分布是RJ和DJ概率密度函数的卷积。 硬件调试——眼图几个经典案例;USB测试眼图测量方案

眼图中对系统性能作一论述;USB测试眼图测量方案

低速信号的眼图:很多速率不太高的总线也可以做眼图测量,但由于数据比特较宽,上升时间相对于数据比特宽度占的比例很小,所以一些低速数字信号的眼图可能比较方正或者比较规整,看起来不太象眼睛,但从物理含义上说这仍然是一种眼图。

眼图测量中需要叠加的波形或比特的数量:在眼图测量中,叠加的波形或比特的数量不一样,可能得到的眼图结果会有细微的差异。由于随机噪声和随机抖动的存在,叠加的波形或比特数量越多,则眼的张开程度会越小,就越能测到恶劣的情况,但相应的测试时间也会变长。为了在测量结果的可靠性以及测量时间上做一个折衷,有些标准会规定眼图测量需要叠加的波形或比特数量,比如需要叠加1000个波形或者叠加1M个比特等。 USB测试眼图测量方案

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