江西眼图测量DDR测试

时间:2023年07月14日 来源:

眼图测试中的时钟恢复

眼图测试和分析关键之处是时钟恢复。现代的宽带示波器一般提供多种时钟恢复方式 以供选择,如下所述。

(1) 常频方式,类似于平均处理,适用于测量时钟抖动、扩频信号等测试。

(2) 黄金锁相环(Golden PLL), 一般支持一级或二级PLL,参数可以随意设置,适用 于测试串行信号。

(3) 外时钟恢复方式,适用于源同步信号的测试(如HDMI) 。

(4) 特殊方式,例如PCI Express> Fibre-Channel时钟恢复方式。

测试串行信号常用的是Golden PLL方法,要根据具体规范的CDR响应曲线选择一级 或二级锁相环,仔细设置时钟恢复参数。下面以SATA3为例介绍时钟恢复参数的设置, 眼图形成理论研究(关于眼图的原理、基础及测量);江西眼图测量DDR测试

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有问题眼图的调试

当眼图出现问题时,通过眼图的参数可以定位一些问题所在,例如过冲/欠冲反映驱动能力和阻抗适配特征,以及幅度过低反映电压幅度不足,等等。这些都是先观察眼图整体特征,再推导可能的问题所在。

对于抖动引起的问题往往不容易分析,可以利用示波器的解开眼图工具和抖动分析工具,定位可能的问题所在。就是典型的抖动引起的问题,短时间内观察眼图很好,但一旦累积时间较长,就会岀现边沿过模板的状况。

眼图有问题,即有信号进入模板时,就可以把眼图展开,定位具体进入模板的信号波形。发现有8个波形进入模板,这时把眼图展开,一个一个地具体浏览进入模板 的波形形状,再分析可能的根源。 海南眼图测量多端口矩阵测试眼图测试的USB接口链路故障定位方法;

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传统眼图生成方法

传统眼图生成方法原理简单,很适合理解眼图生成机制。

统的眼图生成方法简单描述就是“每次触发叠加一个UI”。方法简单,但效果并不理想。由于屏幕上的每个UI信号波形通过触发点对齐,眼图通过对信号多次触发采集后叠加生成。这样会导致仪器触发电路的抖动成分将被引入到眼图测量中。导致了测量不精确。

新的眼图生成方法

新的眼图方法描述为“同步切割+叠加显示”。示波器首先捕获一组连续比特位的信号,然后用软件PLL方法恢复出时钟,利用恢复出的时钟和捕获到的信号按比特位切割,切割一次,叠加一次,终将捕获到的一组数据的每个比特位都叠加到了眼图上。

( 1 )比较好抽样时刻应 在 “眼睛” 张开比较大的时刻。

( 2 )对定时误差的灵敏度可由眼图斜边的斜率决定。斜率越大,对定时误差就越灵敏。

( 3 )在抽样时刻上,眼图上下两分支阴影区的垂直高度,表示比较大信号畸变。

( 4 )眼图中间的横轴位置应对应判决门限电平。

( 5 )在抽样时刻上,上下两分支离门限近的一根线迹至门限的距离表示各相应电平的噪声容限,噪声瞬时值超过它就可能发生错误判决。

( 6 )对于利用信号过零点取平均来得到定时信息的接收系统,眼图倾斜分支与横轴相交的区域的大小,表示零点位置的变动范围,这个变动范围的大小对提取定时信息有重要的影响。 眼图测量传统眼图生成方法;

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眼图测试分析

波形参数测试是数字信号质量评估常用的测量方法,但是随着数字信号速率的提高,靠幅度、上升时间等的波形参数的测量方法越来越不适用了

一个5Gbps的信号来说,由于受到传输通道的损耗的影响,不同位置的信号的幅度、上升时间、脉冲宽度等都是不一样的。不同的操作人员在波形的不同位置测量得到的结果也是不一样的。

因此我们必须采用别的方法对于信号的质量进行评估,对于高速数字信号来说常用的就是眼图的测量方法

所谓眼图,实际上就是高速数字信号不同位置的数据比特按照时钟的间隔叠加在一起自然形成的一个统计分布图。

眼图的形成过程。我们可以看到,随着叠加的波形数量的增加,数字信号逐渐形成了一个个类似眼睛一样的形状,我们就把这种图形叫做眼图。


Q因子可以综合反映眼图的质量,Q因子越高,眼图的质量就越好,信噪比就越高。陕西眼图测量调试

硬件调试——眼图几个经典案例;江西眼图测量DDR测试

分析实际眼图,再结合理论,一个完整的眼图应该包含从“000”到“111”的所有状态组,且每一个状态组发生的次数要尽量一致,否则有些信息将无法呈现在屏幕上,八种状态形成的眼图

由上述的理论分析,结合示波器实际眼图的生成原理,可以知道一般在示波器上观测到的眼图与理论分析得到的眼图大致接近(无串扰等影响),

如下所示:如果这八种状态组中缺失某种状态,得到的眼图会不完整,如下所示:

眼图中通常显示的是1.25UI的时间窗口,眼图的形状各种各样,通过眼图的形状特点可以快速地判断信号的质量。可以根据眼图的相关参数来判别眼图的好坏,从而可以衡量系统的性能。眼图相关的参数有很多,如眼高、眼宽、眼幅度、眼交叉比、“1”电平,“0”电平,消光比,Q因子,平均功率等,各个参数如下图中所示: 江西眼图测量DDR测试

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