PCI-E测试DDR一致性测试PCI-E测试

时间:2023年07月31日 来源:

由于DDR4的数据速率会达到3.2GT/s以上,DDR5的数据速率更高,所以对逻辑分析仪的要求也要很高,需要状态采样时钟支持1.6GHz以上且在双采样模式下支持3.2Gbps 以上的数据速率。基于高速逻辑分析仪的DDR4/5协议测试系统。图中是通过 DIMM条的适配器夹具把上百路信号引到逻辑分析仪,相应的适配器要经过严格测试,确 保在其标称的速率下不会因为信号质量问题对协议测试结果造成影响。目前的逻辑分析仪可以支持4Gbps以上信号的采集和分析。DDR4参数测试参考解决方案.PCI-E测试DDR一致性测试PCI-E测试

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软件运行后,示波器会自动设置时基、垂直增益、触发等参数并进行测量,测量结果会 汇总成一个html格式的测试报告,报告中列出了测试的项目、是否通过、spec的要求、实测 值、margin等。

使用自动测试软件的优点如下所述:

•自动化的设置向导避免连接和设置错误;

•快速的测量和优化的算法减少测试时间;

•可以测试JEDEC规定的速率也可以测试用户自定义的数据速率;

•独有的自动读写分离技术简化了测试操作;

•能够多次测量并给出一个统计的结果;

•能够根据信号斜率自动计算建立/保持时间的修正值。 云南DDR一致性测试一致性测试DDR2 和 LPDDR2 一致性测试软件。

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DDR-致性测试探测和夹具

DDR的信号速率都比较高,要进行可靠的测量,通常推荐的探头连接方式是使用焊接式 探头。还有许多很难在PCB板上找到相应的测试焊盘的情况(比如釆用盲埋孔或双面BGA 焊接的情况),所以Agilent还提供了不同种类的BGA探头,通过对板子做重新焊接将BGA 的Adapter焊接在DDR的memory chip和PCB板中间,并将信号引出。DDR3的 BGA探头的焊接例子。

DDR是需要进行信号完整性测试的总线中复杂的总线,不仅走线多、探测困难,而且 时序复杂,各种操作交织在一起。本文分别从时钟、地址、命令、数据总线方面介绍信号完 整性一致性测试的一些要点和方法,也介绍了自动化测试软件和测试夹具,但是真正测试DDR 总线仍然是一件比较有挑战的事情。

如果PCB的密度较高,有可能期望测量的引脚附近根本找不到合适的过孔(比如采用双面BGA贴装或采用盲埋孔的PCB设计时),这时就需要有合适的手段把关心的BGA引脚上的信号尽可能无失真地引出来。为了解决这种探测的难题,可以使用一种专门的BGAInterposer(BGA芯片转接板,有时也称为BGA探头)。这是一个专门设计的适配器,使用时要把适配器焊接在DDR的内存颗粒和PCB板中间,并通过转接板周边的焊盘把被测信号引出。BGA转接板内部有专门的埋阻电路设计,以尽可能减小信号分叉对信号的影响。一个DDR的BGA探头的典型使用场景。DDR4存储器设计的信号完整性。

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克劳德高速数字信号测试实验室

一个实际的DDR4总线上的读时序和写时序。从两张图我们可 以看到,在实际的DDR总线上,读时序、写时序是同时存在的。而且对于读或者写时序来 说,DQS(数据锁存信号)相对于DQ(数据信号)的位置也是不一样的。对于测试来说,如果 没有软件的辅助,就需要人为分别捕获不同位置的波形,并自己判断每组Burst是读操作还 是写操作,再依据不同的读/写规范进行相应参数的测试,因此测量效率很低,而且无法进行 大量的测量统计。 DDR5 一致性测试应用软件。四川DDR一致性测试服务热线

DDR4 和 LPDDR4 一致性测试应用软件提供了多种可以简化设计验证的关键功能。PCI-E测试DDR一致性测试PCI-E测试

为了进行更简单的读写分离,Agilent的Infiniium系列示波器提供了一种叫作InfiniiScan 的功能,可以通过区域(Zone)定义的方式把读写数据可靠分开。

根据读写数据的建立保持时间不同,Agilent独有的InfiniiScan功能可以通过在屏幕上画 出几个信号必须通过的区域的方式方便地分离出读、写数据,并进一步进行眼图的测试。

信号的眼图。用同样的方法可以把读信号的眼图分离出来。

除了形成眼图外,我们还可以利用示波器的模板测量功能对眼图进行定量分析,

用户可以根据JEDEC的要求自行定义一个模板对读、写信号进行模板测试,如 果模板测试Fail,则还可以利用Agilent示波器提供的模板定位功能定位到引起Fail的波形段。 PCI-E测试DDR一致性测试PCI-E测试

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