武汉光学影像测量仪

影像测头在二维尺寸测量上具备无可比拟的速度优势，但影像测头也有其不擅长的地方，在三维测量中，测量效率不够高、工件侧面特征无法测量等。由此就出现了多测头集成的需求，综合使用影像测头、接触式测头、激光测头和白光测头等，可针对不同的工件及不同的测量需求，选择合适的测量方式，以便提供比较好的测量精度以及比较好的测量效率。在二维尺寸的大批量检测时，可使用影像测头；在测量复杂工件侧壁，而对效率要求又不高的情况下，可选择接触式测量：在复杂工件的三维测量中，如果对效率要求很高，可使用白光测头或激光测头。仪器具有多种数据处理、显示、输入、输出功能，特别是工件摆正功能非常实用；武汉光学影像测量仪

    全自动影像测量仪是影像测量技术的高级阶段，具有高度智能化与自动化特点。其优异的软硬件性能让坐标尺寸测量变得便捷而惬意，拥有基于机器视觉与过程控制的自动学习功能，依托数字化仪器高速而精细的微米级走位，可将测量过程的路径，对焦、选点、功能切换、人工修正、灯光匹配等操作过程自学并记忆。全自动影像测量仪可以轻松学会操作员的所有实操过程，结合其自动对焦和区域搜寻、目标锁定、边缘提取、理匹选点的模糊运算实现人工智能，可自动修正由工件差异和走位差别导致的偏移实现精确选点，具有高精度重复性。从而使操作人员从疲劳的精确目视对位，频繁选点、重复走位、功能切换等单调操作和日益繁重的待测任务中解脱出来，成百倍地提高工件批测效率,满足工业抽检与大批量检测需要。 龙岩影像测量仪供应上海茂鑫众多高性能影像测量仪供您选择。

而成像歧变的探测误差则采用标准圆在仪器视场中完整成像，圆形影像直径占视场边长的约2/9，并且对影像在视场内9个点进行测量，计算其圆心坐标的变化。成像歧变的探测误差反映了成像光路造成的歧变、成像元件刻划不均匀造成的误差，坐标测量机运动误差等对测量结果造成的影响。由图知道，照明亮度、彗差和阈值等均会对测量结果产生影响。使用规定的参数测量同样大小的、颜色互补的2个圆，得到的直径差说明测量参数的影响。特定测量任务的示值误差：对于影像测量仪，同样需要校准长度测量示值误差。对于二维长度测量，使用的标准器是刻线尺。对于Z轴，使用量块。

    影像测量仪是近年来基于计算机视觉检测技术发展起来的一种高效率的新型精密测量仪器，广应用于机械制造、电子、汽车和航天航空等工业中。它可以用来进行零部件的尺寸、形状及其相互位置的在线检测，还可应用于划线、定中心孔、光刻集成线路对准等。由于它的通用性强、测量范围大、精度高、性能好、实时性强、能与柔性制造系统相连接，所以用处相当广。影像测量是将被测对象的图像当作检测和传递信息的测量方法，其目的是从图像中提取有用的信号，而基于图像分析、识别来进行测量。图像是指对物体的发光以及反射光的视觉印象，因为计算机只能处理数字信息，所以图像并不能直接由计算机进行处理，一幅图像在用计算机进行处理之前必须先转化为数字形式，成为数字图像，即进行图像的数字化。因此，一个典型的图像测量系统主要由光源、机台、CCD摄像机、图像采集卡、运动控制系统、PC机6个部分组成，如下图所示。通过各个部分的组合来完成各种不同环境高精密影像检测任务。 影像测量仪在日常工作中，还是起到了比较大的作用。

影像测量仪的计量特性和评定方法：根据影像测量仪的工作原理和影像探头的误差特点，中国计量科学研究院参照德国标准起草的《光学探头坐标测量机校准规范》，对影像探头规定了多点测量的探测误差、成像歧变的探测误差和照明影响的探测误差。与接触式坐标测量机一样，影像测量仪也需要评定长度测量示值误差。所谓多点测量的探测误差与接触探头坐标测量机的探测误差比较接近：标准圆图形上通过多次局部采样，获得标准圆的信息，组合计算圆的参数，反映了影像系统采样各向异性引人的误差、坐标测量机运动误差等。采购影像测量仪[茂鑫]专业厂家 手动全自动型号齐全 快速发货。杭州影像测量仪推荐

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影像测量仪是一种“基于成像在光电耦合器件上的光学影像系统（简称影像系统），通过光电耦合器件采集，经过软件处理成像，显示在计算机屏幕上，利用测量软件进行几何运算得出终结果的非接触式测量仪器”。测量软件通过数字图像处理技术提取工件表面的坐标点，再利用坐标变换和数据处理技术转换成坐标测量空间中的各种几何要素，从而得到被测工件几何尺寸和形位公差等参数。茂鑫影像测量仪,产品型号齐全,性价比高,上门测量,欢迎来电咨询洽谈,价格更低,欢迎您的来电洽谈哦,详情快戳,支持在线咨询或来电洽谈哦武汉光学影像测量仪