PCI-E测试眼图测量检修
在误码率（BER）的测试中，码型发生器会生成数十亿个数据比特，并将这些数据比特发送给输入设备，然后在输出端接收这些数据比特。然后，误码分析仪将接收到的数据与发送的原始数据一位一位进行对比，确定哪些码接收错误，随后会给出一段时间内内计算得到的BER。考虑误码率测试的需要，我们以下面的实际测试眼图为参考，以生成BER图，
ER图是样点时间位置BER(t)的函数，称为BERT扫描图或浴缸曲线。简而言之，它是在相对于参考时钟给定的额定取样时间的不同时间t上测得的BER。参考时钟可以是信号发射机时钟，也可以是从接收的信号中恢复的时钟，具体取决于测试的系统。以上述的眼图为参考，眼睛张开度与误码率的关系以及其BER 高速接口物理层（PHY）眼图测量的手持式分析器；PCI-E测试眼图测量检修
眼高和眼宽
数字信号在采样前后，需要有一定的建立时间(SetupTime)和保持时间(HoldTime)，数字信号在这一段时间内应保持稳定，才能保证正确采样，如图5.1中蓝色部分。而对于输入电平的判决，需要高电平的电压值高于输入高电平VIH，低电平的电压值地与输入低电平VIL，绿色部分。所以，我们可以得知比较早的采样时刻和比较晚的采样时刻
在比较好采样时刻，采样的误码率是比较低的，而随着采样时刻向时间轴两侧的移动，误码率不断增大，如图6所示。所以工程上也经常画出信号采样周期内误码率的变化曲线，称为澡盆曲线(Bathtub Curve)。 PCI-E测试眼图测量检修眼图交叉比，是测量交叉点振幅与信号“1”及“0”位准之关系；
克劳德高速数字信号测试实验室
眼图测试高速串行数据信号的眼图与抖动的仪器都使用了基于锁相环的时钟恢复方法。其中，实时示波器主要使用软件PLL来恢复参考时钟，取样示波器和误码率测试仪都使用硬件PLL来恢复时钟。采用软件恢复时钟方法，捕获长数据波形，将数据与恢复时钟逐位比较，完成眼图、抖动、误码率测试。可分析捕获的串行数据的每一个Bit位，避免了触发抖动和硬件恢复时钟抖动导致的测量不精确，CDR抖动和触发抖动理论为0。
在系统器件的定时方面，数据通信和电信技术并不相同。在同步系统中，如SONET/SDH，系统器件同步到公共的系统时钟。在信号通过网络传送时，不同器件生成的抖动会通过网络传播，除非对器件中传送的抖动提出严格的要求，否则抖动可能会无限制地提高。在异步系统中，如千兆位以太网、PCI Express和光纤通道，器件定时由分布式时钟提供或从数据转换中重建的时钟中提供。在这种情况下，必须限制器件生成的抖动，但从一个器件转移到另一个器件上的抖动则不太重要。不管是哪种情况，底线是系统的工作性能如何，即误码率。分析波形和分析眼图有何区别？
MaskTesting
幅度噪声可能会导致逻辑‘1’的电压或功率电平垂直波动，低于样点，导致逻辑‘1’码错误地标为逻辑‘0’码，即误码。抖动描述了相同的效应，但它是水平波动。抖动或定时噪声可能会导致码的边沿在水平方向中的样点内波动，导致错误。从这种意义上讲，抖动定义为一个数字信号在有效时点上距理想时间位置的短期变化。脉冲电压电平的波动源自不需要的调幅(AM)。类似的，转换的定时波动可以描述为脉冲相位波动、不需要的调相(PM)或相噪。 眼图测试的USB接口链路故障定位方法；PCI-E测试眼图测量检修
眼图高度(眼高)的定义;PCI-E测试眼图测量检修
有问题眼图的调试
当眼图出现问题时，通过眼图的参数可以定位一些问题所在，例如过冲/欠冲反映驱动能力和阻抗适配特征，以及幅度过低反映电压幅度不足，等等。这些都是先观察眼图整体特征,再推导可能的问题所在。
对于抖动引起的问题往往不容易分析，可以利用示波器的解开眼图工具和抖动分析工具,定位可能的问题所在。就是典型的抖动引起的问题，短时间内观察眼图很好，但一旦累积时间较长，就会岀现边沿过模板的状况。
眼图有问题，即有信号进入模板时，就可以把眼图展开，定位具体进入模板的信号波形。发现有8个波形进入模板，这时把眼图展开，一个一个地具体浏览进入模板 的波形形状，再分析可能的根源。 PCI-E测试眼图测量检修
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