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这些年来，IC持续向更小的外型尺寸发展，使得每个芯片可以封装更多的电路。这样增加了每单位面积容量，可以降低成本和增加功能－见摩尔定律，集成电路中的晶体管数量，每两年增加一倍。总之，随着外形尺寸缩小，几乎所有的指标改善了－单位成本和开关功率消耗下降，速度提高。但是，集成纳米级别设备的IC不是没有问题，主要是泄漏电流（leakage current）。因此，对于用户的速度和功率消耗增加非常明显，制造商面临使用更好几何学的尖锐挑战。这个过程和在未来几年所期望的进步，在半导体国际技术路线图（ITRS）中有很好的描述。集成电路技术不断创新和演进，推动了电子产业的快速发展和社会进步。MDD04N60ZT4G

尽管随机存取存储器结构非常复杂，几十年来芯片宽度一直减少，但集成电路的层依然比宽度薄很多。组件层的制作非常像照相过程。虽然可见光谱中的光波不能用来曝光组件层，因为他们太大了。高频光子（通常是紫外线）被用来创造每层的图案。因为每个特征都非常小，对于一个正在调试制造过程的过程工程师来说，电子显微镜是必要工具。在使用自动测试设备（ATE）包装前，每个设备都要进行测试。测试过程称为晶圆测试或晶圆探通。晶圆被切割成矩形块，每个被称为“die”。每个好的die被焊在“pads”上的铝线或金线，连接到封装内，pads通常在die的边上。封装之后，设备在晶圆探通中使用的相同或相似的ATE上进行终检。测试成本可以达到低成本产品的制造成本的25%，但是对于低产出，大型和/或高成本的设备，可以忽略不计。在2005年，一个制造厂（通常称为半导体工厂，常简称fab，指fabrication facility）建设费用要超过10亿美金，因为大部分操作是自动化的。1SMA5918BT3G集成电路制造工艺的不断进步，使得电子设备越来越小巧、轻便。

集成电路的封装外壳多样化，其中一个重要的方面是材料的选择。目前常见的封装材料有塑料、陶瓷、金属等。塑料封装外壳是常见的一种，其优点是成本低、加工方便、重量轻、绝缘性好等。陶瓷封装外壳则具有高温耐受性、抗腐蚀性、机械强度高等优点，适用于高性能、高可靠性的应用场合。金属封装外壳则具有良好的散热性能、抗干扰性能等优点，适用于高功率、高频率的应用场合。因此，封装外壳的材料选择应根据具体应用场合的需求来进行。集成电路的封装外壳结构也是多样化的，常见的形式有圆壳式、扁平式和双列直插式等。

晶体管发明并大量生产之后，各式固态半导体组件如二极管、晶体管等大量使用，取代了真空管在电路中的功能与角色。到了20世纪中后期半导体制造技术进步，使得集成电路成为可能。相对于手工组装电路使用个别的分立电子组件，集成电路可以把很大数量的微晶体管集成到一个小芯片，是一个巨大的进步。集成电路的规模生产能力，可靠性，电路设计的模块化方法确保了快速采用标准化IC代替了设计使用离散晶体管。IC对于离散晶体管有两个主要优势：成本和性能。成本低是由于芯片把所有的组件通过照相平版技术，作为一个单位印刷，而不是在一个时间只制作一个晶体管。性能高是由于组件快速开关，消耗更低能量，因为组件很小且彼此靠近。2006年，芯片面积从几平方毫米到350mm²，每mm²可以达到一百万个晶体管。集成电路技术的不断创新和演进，将为人类社会带来更多科技进步和创新突破。

随着IC制造工艺的不断进步和应用领域的不断扩展，IC泄漏电流问题仍然是一个长期存在的挑战。未来，随着器件尺寸的进一步缩小和功耗的进一步降低，IC泄漏电流问题将更加突出。因此，制造商需要不断创新和改进，采用更先进的几何学和工艺，以提高器件的性能和可靠性。同时，还需要加强对器件物理特性的研究和理解，探索新的材料和工艺，以满足未来市场对高性能、低功耗、长寿命的IC的需求。总之，IC泄漏电流问题是一个复杂而重要的问题，需要制造商、学者和研究人员共同努力，才能取得更好的解决方案和进展。集成电路的设计和制造需要充分考虑电路的功耗、散热和可靠性等因素。MC74HC04AFELG

基于硅的集成电路是当今半导体工业主流，具备成本低、可靠性高的优势。MDD04N60ZT4G

氧化工艺是集成电路制造中的基础工艺之一，其作用是在硅片表面形成一层氧化膜，以保护硅片表面免受污染和损伤。氧化膜的厚度和质量对电路的性能和可靠性有着重要的影响。在氧化工艺中，硅片首先被清洗干净，然后放入氧化炉中，在高温高压的氧气环境下进行氧化反应，形成氧化膜。氧化膜的厚度可以通过调节氧化时间和温度来控制。此外，氧化工艺还可以用于形成局部氧化膜，以实现电路的局部隔离和控制。光刻工艺是集成电路制造中较关键的工艺之一，其作用是在硅片表面上形成微小的图案，以定义电路的结构和功能。MDD04N60ZT4G