电子元件可靠性测试

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 5、振动试验： 振动试验标准：电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fi: 振动 混合模式 只做：频率2Hz～3000Hz,位移≤51mm, 载荷≤3000kg 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动（数字控制）和导则 GB/T 2423.56-2006。只做：频率2Hz～3000Hz,位移≤51mm,载荷≤3000kg。 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc和导则：振动（正弦）只做：频率2Hz～3000Hz,位移≤51mm, 载荷≤3000kg。 6、温度变化试验： 环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化 7、温度/湿度组合循环试验： 环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验 8、跌落试验： 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落 9、机械冲击试验： 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 10、碰撞试验： 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞可靠性测试可以是实验室内的试验。电子元件可靠性测试

先来看看MIL-STD-810G军规标准，它指的是：环境工程考察和实验室测试。它是一项美国jun用标准，强调通过环境测试手段，发现问题，反复修改设备的初始设计完善产品。简单的说，就是笔记本从*初设计到用料选材再到制造的整个环节都必须严格符合军规标准，只有这样*终才能够顺利通过MIL-STD-810G军规标准测试。

下面是MIL-STD-810G的几个重要测试项目：

跌落测试：顾名思义就是把产品托举到一定高度，然后使其自由落体，之后再检查它是否完好。该测试模拟我们日常工作中不慎将笔记本跌落的状况。

加速度冲击性测试：笔记本在工作台上被物体以加速形态冲撞，然后落地，基本就是模拟受到突发性冲撞。

耐久度测试：主要考察笔记本频繁使用过程中的可靠性，尤其考验转轴、排线等配件，该项测试一般都会经历几十万次开合。 上海电路板可靠性测试试验通过对产品的可靠性测试就可以了解产品质量的稳定程度了。

低可靠性意味着高的售后成本，售后成本高了利润自然少了。还有些安全要求高的产品一但失效意味着人的生命受到威胁，也要求很高的可靠性，比如载人航空航天产品。当然高可靠性并不意味着就盲目投入。靠谱的可靠性测试公司工作一方面要在控制测试价格的同时达到客户的要求，其产品测试范围基本覆盖了各类产业，甚至气候环境或者测试室以及防护服一类的防护等级都是其业务范围。当然在选择测试公司的时候还是要查询一下公司资质以及服务范围，这样在测试的标准性得到保障的同时也能配合后期相关部门检查。

很多产品在上市之前都有明确的使用年限，很多人会对这类数值表示怀疑。其实这是因为大多数正规的企业为了确保产品的使用年限都会对其进行可靠性的检测。此时的检测主要是通过外界的手段加速产品的老化，寻找出产品寿命与应力之间的物理化学关系。利用加速应水平下的寿命特征去倒退正常产品的正常应力下的寿命特征。可靠性测试对产品的检测现已成为行业内认可的硬性指标，很多的新型产品在未进行可靠性的检测之前是不会受到市场认可的。只有经过了可靠性测试的产品才能表现出应有的性能，这是企业对产品的品质负责任也是对消费者负责的表现。可靠性强化测试是一种激发性测试。

一般的可靠性测试项目包含哪些内容呢？ 综合环境测试：温度+湿度+振动/冲击/碰撞、HALT/HASS/HASA、温湿度堆码试验、高压蒸煮试验。 包材及包装运输测试：环境温湿度测试、堆码测试、包装抗压测试、振动测试、冲击测试、跌落测试、碰撞测试、水平夹持测试、低气压测试。 物理性能测试：百格测试、耐磨测试、划痕测试、插拔测试、弯折测试、色牢度测试、防火/燃烧测试;摇摆测试、按键寿命测试、硬度测试、落锤冲击/摆锤冲击测试、拉伸强度/抗压强度/屈服强度测试、熔融测试。 电磁兼容环境测试：射频性能测试、SAR测试、OTA测试、HAC测试、TCOIL测试、数字电视机性能测试、音视频产品性能测试、卫星导航产品(GPS)性能测试、平板显示性能测试、中国医疗器械注册检测、中国电信进网许可检测测试可靠性的较简单的一个方法是使用随机输入。电子元件可靠性测试

为什么要做可靠性试验？电子元件可靠性测试

影响电子产品可靠性测试结果的因素是？1.自然环境，电子元器件在工作中受环境因素影响较大，如温度、湿度、盐雾、气压、海拔高度、大气污染颗粒等都会对电子元器件的正常运行产生影响，使其电气性能下降，甚至损伤元器件，从而引发故障。2.机械结构，电子产品的机械结构设计要满足使用工况的要求，强烈的机械振动或碰撞会使设备产生机械结构的损伤变形，甚至导致电子元器件的物理损伤或失效，致使电子产品无法正常运行。3.电磁环境，环境中的电磁波无处不在，电子产品在运行中，无时无刻不与空间中的电磁信号进行接触。在电磁信号的影响下，电子电路的噪声会变大，稳定性会变差。电子元件可靠性测试

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