上海电池串检测设备价格
缺点种类一:黑心片EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑域,该部分没有发出1150nm的红外光,故红外相片中反映出黑心,此类发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。缺点种类二:黑团片多晶电池片黑团主要是由于硅片供应商一再缩短晶体定向凝固时间,熔体潜热释放与热场温度梯度失配导致硅片内部位错缺点。缺点种类三:黑斑片黑斑片一般是由于硅料受到其他杂质污染所致。通常少数载流子的寿命和污染杂质含量及位错密度有关。黑斑中心区域位错密度>107个/cm2,黑斑边缘区域位错密度>106个/cm2均为标准要求的1000~10000倍这是相当大的位错密度。检测,就选上海欧普泰科技创业股份有限公司,欢迎客户来电!上海电池串检测设备价格
EL检测仪,又称太阳能组件电致发光缺点检测仪,是跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺点检测及生产工艺监控的测试设备。给晶体硅电池组件正向通入1-1.5倍Isc的电流后硅片会发出1000-1100nm的红外光,测试仪下方的摄像头可以捕捉到这个波长的光并成像于电脑上。因为通电发的光与PN结中离子浓度有很大的关系,因此可以根据图像来判断硅片内部的状况。EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑域,该部分没有发出1150nm的红外光,故红外相片中反映出黑心,此类发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。上海电池串检测设备价格上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测,有想法的不要错过哦!
EL(Electroluminescence,电致发光)是简单有效的检测隐裂的方法。其检测原理如下。电池片的部分是半导体PN结,在没有其它激励(例如光照、电压、温度)的条件下,其内部处于一个动态平衡状态,电子和空穴的数量相对保持稳定。如果施加电压,半导体中的内部电场将被削弱,N区的电子将会被推向P区,与P区的空穴复合(也可理解为P区的空穴被推向N区,与N区的电子复合),复合之后以光的形式辅射出去,即电致发光。当被施加正向偏压之后,晶体硅电池就会发光,波长1100nm左右,属于红外波段,肉眼观测不到。因此,在进行EL测试时,需利用CCD相机辅助捕捉这些光子,然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。给晶硅组件施加电压后,所激发出的电子和空穴复合的数量越多,其发射出的光子也就越多,所测得的EL图像也就越亮;如果有的区域EL图像比较暗,说明该处产生的电子和空穴数量较少,该处存在缺点;如果有的区域完全是暗的,该处没有发生电子和空穴的复合,也或者是所发光被其它障碍所遮挡,无法检测到信号。
对于整体组件在封装成后,如何把控质量与技术呢?这就会出现各种各样的问题。目前,组件质量的把控能力,主要通过样品的测试结果来反映。组件的发电量会根据接受的辐照度呈现不规则线性变化。通过低辐照度下电性能测试,可以有效了解产品是否适合在日照条件较差的地区使用。由于组件老化、缺陷或者环境遮蔽会导致过热现象。通过热斑测试,可以确定组件耐热斑热效应的能力。在温度较高地区容易出现由于接地条件差异和电势差导致的性能衰减。通过PID电致衰减测试,可以研究组件及系统电势对组件性能衰减的影响。在保证零部件可靠性的同时,组件的密封性能将直接影响封装在组件的使用寿命。通过EVA剥离强度测量,定量测量组件封装强度,可有效避免因封装工艺的缺陷导致的损失。无论封装技术如何发展,都必须保证玻璃与EVA之间的剥离强度不能低于40N/CM。否则,组件的可靠性将成为比较大的问题。上海欧普泰科技创业股份有限公司是一家专业提供检测的公司,有想法可以来我司咨询!
隐裂形成的缘由和光伏组件检测方法电池片中出现细小裂纹就是隐裂,隐裂了的电池片会加快电池片功率减退,组件的正常使用寿命被影响了,而且在机械载荷下电池片的隐裂会扩大,有导致开路性破坏的可能,隐裂还有几率会造成热斑效应。因为多方面原因共同作用下造成了隐裂的产生,组件受力不均,还有可能造成电池片的隐裂是在运输、倒运的过程中剧烈的抖动。使用EL检测仪进行EL成像检测是会在光伏组件在出厂前进行的。为了获取并判定组件的缺陷,该仪器利用晶体硅的电致发光原理,利用高分辨率的CCD相机拍摄组件的近红外图像。上海欧普泰科技创业股份有限公司检测服务值得放心。上海电池串检测设备价格
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目前在系统应用领域的功率衰减问题,其主要原因还是组件的质量问题造成的输出功率下降,这种情况的功率衰减,是没有办法在后期应用过程中避免的,我们更多应该做的是控制生产过程中的质量,改进生产工艺,提高产品质量。另外很重要的一点,热斑效应是导致功率衰减的重要原因之一,建议组件厂商订购相关检测设备,减少导致热斑效应因素的产生。热斑可能导致整个电池组件损坏,甚至造成整个电厂的瘫痪,造成损失。因此,需要认真研究热斑形成的内外在原因,从而减小热斑形成的可能性。上海电池串检测设备价格
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