枣庄专业SIL定级专业机构

不完美描述是仪表工程师需要经常面对的挑战，而比较大的考验来自于发现SIL定级报告中的SIF描述和手里的联锁回路图不对版。这时候作为一个仪表工程师，是不是立即感到恐慌和焦虑了？件事是要确定手里的定级报告是否完成在联锁设计之前，后期变化有无导致联锁回路变化，如果是，要求升版SIL定级报告是理智的选择，如前所述，SIL验证完全依赖SIL定级报告中确定的SIF回路和SIL定级，以此为依据来做计算结果的判断，如果定级报告都与实际不符，那么SIL验证只能是空中阁楼了；如果定级报告已经是新版本，这里要澄清一个概念，SIF回路不等同于联锁回路，你可以看到它们的共同之处，但是SIF回路只注重于安全保护的执行动作，那些没有安全保护的功能，但处于操作需要也必须完成的执行动作不会包含在SIF回路中，可以出现在联锁回路中。 岩腾自动化保证质量，售后更放心！枣庄专业SIL定级专业机构

当需要你配合SIL验算工作的展开，作为一个仪表工程师，你需要做哪些准备呢？无论是自己打算做验证计算还是委托第三方做验证计算，下图所示的一些基本程序都不可回避。第一步：阅读定级报告问题1：首先要了解SIL验算算什么？验证的目的是计算每一个回路的SIL等级以及要求的平均失效概率(PFD)是否满足定级要求，假如不满足，则需要重新进行安全仪表系统选型和设计，假如满足，则认为验证合格。因此，验证报告中每一个回路的结果要和定级每一个回路进行对比。平均失效概率(PFD)在标准中自有其定义，简单的理解说，就是了对应的仪表/回路的失败几率。当然是几率越低越不容易出事，那么SIL等级也越高。毫无疑问SIL2比SIL1更安全，对应的平均失效概率(PFD)更低，牢记这一点，对后期审阅SIL验证报告将有很大的帮助。好的开始是成功的一半，一份完美的SIL定级报告无疑是成功的第一步。 枣庄专业SIL定级专业机构岩腾自动化以完善的品质流程控制和质量检测体系，通过世界各地多质量体系认证。

SIL定级的方法主要有矩阵法、风险图法、保护层分析法。

为了具体量化安全完整性，IEC61508定义了安全完整性等级(SIL)的概念，用于规定分配给电气/电子/可编程电子安全相关系统的安全功能的安全完整性要求。SIS系统有4种安全完整性等级，安全完整性等级SIL4是比较高的，安全完整性等级SIL1是比较低的。

目前的SIL 定级有三种方法： 1. 矩阵法-定性； 2. 风险图法-半定性； 3. LOPA（保护层分析）法-半定量。

LOPA是一种半定量的危险性评价方法，它通过评价保护层的要求时失效概率（即PFD）来判断现有防护措施是否满足系统的安全需要。它主要应用在化工过程工业中，它通过分析系统中各个防护层的失效概率来评估潜在事故的危险性，并与风险可接受标准进行比较，从而实现对防护系统防护性能的判断。需要数据支持：初始事件频率、保护层失效概率、后果可接受概率。

目前的SIL 定级有三种方法： 1. 矩阵法-定性； 2. 风险图法-半定性； 3. LOPA（保护层分析）法-半定量。

风险图法的弊端

评估SIL需求时，风险图表是一种非常有用但较粗的工具。（一种方法，使用了5个参数——C、F、P、W、SIL，每一个的值都有一个数量级的范围，将不可避免地产生较大的偏差。）

必须在一个保守的基准上进行标准化，以免低估了未防护的风险以及风险消除量/保护需求度而带来的危险。

更高的SIL需求将导致企业成本增加。这时就需要一种更优良的SIL定级分析方法—LOPA保护层分析法。 岩腾自动化拥有多年积累的客户好口碑。

    经过HAZOP分析后，哪些节点偏离需要进一步做SIL定级。比如，风险等级高、极高的偏离，有联锁的控制点？①哪些节点的偏离需要HAZOP，需要结合该偏差对应场景的风险程度②程序文件里均明确对中等及以上风险场景进一步进行LOPA分析③关键点解析：若要SIL定级时不存在遗漏的情况，通常需要结合联锁表及HAZOP分析中高风险场景结合分析。常规的做法：联锁表为基础，HAZOP高风险场景为补充。.SIL报告对每个回路进行SIL定级之后，如何确定一个回路中每个环节（比如传感器+控制器+执行器）是否满足SIL等级要求？①SIF回路满足其SIL等级，要求SIF回路（包含触发机构、逻辑处理器、**终元件）的PFD值和HFT同时满足其要求。②SIL定级后一定要进行SRS分析，对每个回路的HFT、延迟、失效模式、旁路需求进行分析。③关键点解析：结合国外良好的实践，SIL定级后设计阶段各元件的选取，通常采取SRS分析+SIL预验算（仪表短名单+多种方案组合）的模式开展。 岩腾自动化各种产品选科精良。山东专业SIL定级报告

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    软硬件SIL的评估①硬件故障裕度的要求硬件故障裕度指部件或子系统在出现一个或几个硬件故障的情况下，功能单元继续执行所要求的仪表安全功能的能度N意味着N+1个故障会导致全功能的丧失。例如：硬件故障裕度为1，表示如有两台设备，它们的结构应使得两个险失效不得阻止安全动作发生。为了减轻仪表安全功能设计中的潜在缺陷，IEC61511-1表5和表6定义了传感器、端元件比较低的硬件故裕度。对仪表安全功能而言，传感器、逻辑解算器和**终元件应具有比较低的硬件故障裕度,硬件比较低的部件或子系统冗余。②硬件安全完整性的结构约束硬件安全功能所声明的比较高安全完整性等级受限于硬件故障裕度及执行该安全功能的子系统的安全失效分数(SFF)。表2和表3为A类和B类相关子系统的结构约束，表示在失效分数(SFF)确定的情况下，SIL与比较低硬件故障裕度之间的在进行SIL评估时，我们首先要根据部件或子系统的失效模式是否已知、数据是否可靠、故障行为是否确定来区别硬属于A类还是B类。然后，进行SFF及PFD计算,对应。即部件和相关子系统的安全完整性等确定子系统比较大硬件安全完整性等级时,必须考虑系统结构约束,即在SFF确定前提下,故障裕度要求与SIL的对应关系子系统的结构约束。 枣庄专业SIL定级专业机构

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