北京高速光学非接触变形测量

时间:2023年03月11日 来源:

变形测量时,应满足以下基本要求:1。对于大型或重要的工程建筑物和构筑物,变形测量应在工程设计中统筹安排。施工开始时,应进行变形测量。2.变形测量点应分为基准点、工作基点和变形观测点。3.每次变形观测应满足以下要求:使用相同的图形(观测路线)和观测方法,使用相同的仪器设备,固定观测人员在基本相同的环境和条件下工作。4、定期检查平面、高程监测网。在网络建设初期,应每六个月进行一次测试;在该点稳定之后,可以适当地延长检测周期。当对变形结果有任何疑问时,应随时检查。光学应变测量系统(DIC)普遍应用于航空航天领域。北京高速光学非接触变形测量

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在光学非接触应变测量时,根据所使用的应变片的数量和测量目的,可以使用各种连接方法。在四分之一桥方法中,较多使用3线式连接来消除温度变化对导线电阻的影响。但是,导线电阻相关的灵敏系数修正以及连接部分的接触电阻变化等会产生测量误差。因此,光学非接触应变测量开发出了的独特的1计4线应变测量法,省去了根据导线电阻校正灵敏系数的需要,消除了由接触电阻引起的测量误差。在温度恒定的条件,即使被测构件未承受应力,应变计的指示应变也会随着时间的增加而逐渐变化,即零点漂移(零漂)。福建扫描电镜非接触系统哪里可以买到应变测量的量很少大于几个毫应变(ex10⁻³)。

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理想情况下,光学非接触应变测量应变计的电阻单随应变的变化而变化。 但是,光学非接触应变测量应变计材料和样本材料也会随温度变化而变化。通过在电桥中使用两个应变计,1/4桥应变计配置类型II有助于进一步减少温度的影响。通常一个应变计(R4)处于工作状态,而另一个应变计(R3)固定在热触点附近,但并未连接至样本,且平行于应变主轴。 因此,应变测量对虚拟电阻几乎没有影响,但是任何温度变化对两个应变计的影响都是一样的。由于两个应变计的温度变化相同,因此电阻比和输出电压(Vo)都没有变化,温度的影响也得到了比较小化。

外部变形是指变形体的外部形状及其空间位置的变化,如倾斜、裂缝、垂直和水平位移。因此,变形观测可分为垂直位移观测(通常称为沉降观测)、水平位移观测(常称为位移观测)、倾斜观测、裂缝观测、,以及风振观测(强风引起的变形观测)、阳光观测(阳光引起的不均匀加热引起的变形的观测)和基坑回弹观测(基坑开挖期间卸载土壤重量引起的坑底土壤隆起的观测);内部变形是指变形体内部应力、温度、水位、渗流和渗透压力的变化。进行破坏性实验时,需要使用到非接触式应变测量光学仪器进行高速的拍摄测量。

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三维应变测量技术对于塑性材料研究是非常重要的工具,它采用可移动式非接触测量头,可方便地整合应用到静态、动态、高速和高温等测量环境中,可详细地测量材料存在的复杂特性,甚至可用于材料的力学实验,例如杯突实验、抗拉实验、拉弯实验以及剪切实验。比传统的应变计测量,可以获得更详细的数据信息,可对数字仿真做更详细的对比和评价。结合光、电、计算机等技术的优点,光学三维测量技术达到了非接触性、无破坏性、精度和分辨率高以及测量速度快的特点,光学非接触应变测量在弹性塑性材料等特殊测量领域受到很大的关注。光学非接触式测量是在汽车研发中的应用。福建扫描电镜非接触系统哪里可以买到

为了分析变形规律和预测变形趋势,必须按照一定的时间周期重复进行变形观测。北京高速光学非接触变形测量

金属应变计的应变计因子通常约为2,通过传感器厂商或相关文档可获取应变计的实际应变计因子。实际上,应变测量的量很少大于几个毫应变(ex10⁻³)。因此,光学非接触应变测量时必需精确测量电阻极微小变化。 例如,假设测试样本的实际应变为500me,应变计因子为2的应变计可检测的电阻变化为2 (500 x 10⁻⁶) = 0.1%。对于120Ω的应变计,变化值单为0.12Ω。为测量如此小的电阻变化,应变计配置基于惠斯通电桥的概念。 常见的惠斯通电桥由四个相互连接的电阻臂和激励电压VEX组成。北京高速光学非接触变形测量

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