NB/T 20036.2-2011地震项目

时间:2022年11月28日 来源:

自然界非常具有破坏力的力量之一就是地震,当地震发生后可以对社会造成毁灭性的生命和财产损失。除了建筑物和结构,地震损坏的设备可能直接或间接地为人们或环境造成危害。基于对人们和设施的保护,在一定的时间及环境下可以进行模拟地震测试,主要为了检测产品的抗震性能对于使用的通信及涉及安全(如核控制方面等)的设备应当经过抗震性能检测。目前发生在世界上主要地区的地震均可以在上海天梯地震模拟实验中重现,而且我国规定在我国抗震设防烈度 7 度以上(含 7 度)地区的公用电信网上使用的服务器和网关设备,应通过抗地震性能检测,未通过的产品不得在工程中使用。地震测试有哪些?怎么办理地震测试?NB/T 20036.2-2011地震项目

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HALT(Highly Accelerated Life Test,高加速寿命试验)-HASS(Highly Accelerated Stress Screening,高加速应力筛选)、这是一种能够提高产品地震的测试手段,HALT/HASS 是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法,现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6 个月甚至1 年的新产品地震试验缩短至一周,且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致,故HALT/HASS 的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。在美国之外,许多国际的3C 电子产品大厂也都使用相同或类似的手法来提升产品质量。 HALT 是一种通过让被测物承受不同的应力、进而发现其设计上的缺限,以及潜在弱点的实验方法。加诸于产品的应力有振动,高低温,温度循环,电力开关循环,电压边际及频率边际测试等。HALT 应用于产品的研发阶段,能够及早地发现产品地震的薄弱环节。NB/T 20036.2-2011地震项目环境地震测试包含了哪些呢?

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上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 15、IP防护等级(外壳防护试验): 外壳防护等级(IP代码):GB 4208-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验R:水试验方法和导则:GB/T 2423.38-2008 16、低温/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005 17、高温/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BFc:散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005 18、温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/ABMFh:温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合 19、温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合

地震一般会分为天然地震和人工地震两大类。天然地震的震源深度大多在10km度范围内 ,查明地壳上部断裂与深部断裂的关系 ,对地震危险性评价意义重大。根据发生原因的不同,天然地震主要有三种类型:构造地、火山地震、陷落地震。构造地震,由于地下深处岩层错动、破裂所造成的地震。这类地震发生的次数很多,破坏力也非常大,约占全球地震数的90%以上。火山地震,由于火山作用,如岩浆活动、气体等引起的振动。火山地震一般影响范围较小,发生得也较少,约占全球地震数的7%。陷落地震,由于地层陷落引起的地震,例如,当地下溶洞或矿山采空区支撑不住顶部的压力时,就会塌陷,引起振动。这类地震更少,大约不到全球地震数的3%,引起的破坏也较小。一般的地震测试项目包含哪些内容?

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地震测试的目的只有一个:提高我国青少年的防震自救水平。普及地震知识,增强青少年抗震减灾、自我保护意识,提高应对地震等突发事件的能力,以地震作为主题。在该项目中一般会采用了一些高科技的展示方式,以增加小屋的知识性、趣味性、参与性、互动性,令人耳目一新。由于它集成了影视技术、光电技术等现代化展示手段,从而使地震小屋在展示内容和形式上作到了起点高、科技含量大、富有时代特色。模拟系统地震模拟体验系统完全按照中国地震局提供的地震波形数据为依据,包括纵波,横波的偏移量,震动频率;以及叠加面波的运动特性。第三方地震测试公司,欢迎咨询上海天梯!NB/T 20036.2-2011地震项目

请问有谁知道NTC温度传感器的地震测试?NB/T 20036.2-2011地震项目

上海天梯检测——高压空载,低压限流态运行试验 测试说明: 高压空载运行是测试模块的损耗情况,尤其是带软开关技术的模块,在空载情况下,软开关变为硬开关,模块的损耗相应增大。低压满载运行是测试模块在较大输入电流时,模块的损耗情况,通常状态下,模块在低压输入、满载输出时,效率较低,此时模块的发热较为严重。 测试方法: A、将模块的输入电压调整为输入过压保护点-3V,模块的输出为较低输出电压,空载运行,此时,模块的占空比为较小,连续运行2小时,模块不应损坏; B、将模块的输入电压调整为欠压点+3V,模块的输出为较高输出电压的拐点状态,此时模块的占空比为较大,连续运行2小时,模块不应出现损坏NB/T 20036.2-2011地震项目

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