上海TB/T 2761轨道交通测试试验技术
⑶IPX 3
方法名称:水溅试验
试验方法:
a。摆管式淋水试验
试验设备:摆管式淋水溅水试验装置
试样放置:选择适当半径的摆管,使样品台面高度处于摆管直径位置上,将试样放在样台上,使其顶部到样品喷水口的距离不大于 200mm ,样品台不旋转。
试验条件:水流量按摆管的喷水孔数计算,每孔为 0.07
L/min ,淋水时,摆管中点两边各 60° 弧段内的喷水孔的喷水喷向样品。被试样品放在摆管半圆中心。摆管沿垂线两边各摆动 60°,共 120°。每次摆动(2×120°)
约 4s
试验时间:连续淋水 10 min
b。喷头式淋水试验
试验设备:手持式淋水溅水试验装置
试样放置:使试验顶部到手持喷头喷水口的平行距离在 300mm 至 500mm 之间
试验条件:试验时应安装带平衡重物的挡板,水流量为 10
L/min
试验时间:按被检样品外壳表面积计算,每平方米为 1 min (不包括安装面积),*少 5 min 轨道交通类检测,选上海天梯检测,专业第三方检测机构!上海TB/T 2761轨道交通测试试验技术
测试项目名称:网关可靠性测试
测试项目:正弦振动测试、机械冲击测试
测试条件:
正弦振动测试:
频率:10HZ~150HZ
振幅:0.035mm
加速度:5m/s2
方向:X轴/Y轴/Z轴
扫描循环次数:20次
机械冲击测试:
加速度:49m/s2
脉冲持续时间:11ms
方向:±X轴/±Y轴/±Z轴
冲击次数:3次/每个方向
试验目的:
1.外观检测项目:测试后目测样品的外观有无明显的变化,紧固件是否有松动、机械损坏等现象。
2.功能检测项目:测试后样品通电各项功能是否正常。 上海车道轨道交通试验上海天梯检测通过试验,可以为您提供产品研发数据支持。
实验目的
盐雾腐蚀就是一种常见和有破坏性的大气腐蚀。
盐雾试验是一种主要利用盐雾试验设备所创造的人工模拟盐雾环境条件来考核产品或金属材料耐腐蚀性能的环境试验。它分为二大类,一类为天然环境暴露试验,另一类为人工加速模拟盐雾环境试验。人工模拟盐雾环境试验是利用一种具有一定容积空间的试验设备——盐雾试验箱,在其容积空间内用人工的方法,造成盐雾环境来对产品的耐盐雾腐蚀性能质量进行考核。它与天然环境相比,其盐雾环境的氯化物的盐浓度,可以是一般天然环境盐雾含量的几倍或几十倍,使腐蚀速度提高,对产品进行盐雾试验,得出结果的时间也更短。
上海天梯检测技术有限公司可靠性试验目的: 环境试验与可靠性试验的区别: 环境应力量值选用准则: 环境试验基本采用极值条件,用严酷代替温和,即采用产品在寿命周期内可能遇到的较极端的环境条件作为试验条件。许多试验带有一定的破坏性且试验过程中一般不需模拟产品的工作状态。而可靠性试验采用实效试验,即真实地模拟贮存,运输,使用过程中遇到的主要环境条件及其动态变化过程。在GJB-889和相应的MIL-STD-781 D中规定了一套要据任务剖面确定环境剖面,再将环境剖面简化为试验剖面对产品进行长时间可靠性考核的方法。可靠性试验一般不会对产品造成破坏,它需要模拟产品的工作状态,所用的试验条件大部分模拟工作中常遇到的较温和的应力环境,取值较环境试验低得多。上海天梯检测技术有限公司检测实验室、提供一站式测试服务。
轨道交通综合测试之:
静电放电抗扰度测试
GB/T17626.2国内静电放电标准描述的是在低湿度环境下,通过摩擦使人体带电.带了电的人体,在与设备接触过程中就可能对设备放电.静电放电抗扰度试验模拟了两种情况:⑴设备操作人员直接触摸设备时对设备的放电,和放电对设备工作的影响;⑵设备操作人员在触摸邻近设备时,对所关心这台设备的影响.
其中前一种情况称为直接放电(直接对设备放电);后一种情况称为间接放电(通过对邻近物体的放电,间接构成对设备工作的影响).静电放电可能造成的后果是:
⑴通过直接放电,引起设备中半导体器件的损坏,从而造成设备的yong久性失效.
⑵由放电(可能是直接放电,也可能是间接放电)而引起的近场电磁场变化,造成设备的误动作. 城市轨道交通安全评价指标分为哪几类?各类指标的含义是什么?上海轨道交通试验
振动试验分为:功能性随机振动试验和模拟长寿命振动试验。上海TB/T 2761轨道交通测试试验技术
轨道交通综合测试之
静电放电抗扰度测试概述
静电放电抗扰度试验(ESD)的国家标准为GB/T17626.2(等同于国际标准IEC61000-4-2)。
静电放电(ESD)是一种自然现象,经验表明,人在合成纤维的地毯上行走时,通过鞋子与地毯的摩擦,只要行走几步,人体上积累的电荷就可以达到10-6库仑以上(这取决于鞋子与地毯之间的电阻),在这样一个"系统"里(人/地毯/大地)的平均电容约为几十至上百pF,可能产生的电压要达到15kV.研究不同的人体产生的静电放电,会有许多不同的电流脉冲,电流波形的上升时间在100ps至30ns之间.电子工程师们发现,静电放电多发生于人体接触半导体器件的时候,有可能导致数层半导体材料的击穿,产生不可挽回的损坏.静电放电以及紧跟其后的电磁场变化,可能危害电子设备的正常工作。上海TB/T 2761轨道交通测试试验技术
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