快速SEM扫描电镜+CP硅酸铁锂晶界分布特征检测

我们公司使用的蔡司显微镜蔡司X射线显微镜XRM、蔡司显微镜光学显微镜及FIB-SEM组成的多尺度、多维度关联分析平台，为锂电材料提供从粉料、极片到电芯层级，从新鲜、活化到老化全生命周期的微观性能分析，即使是商业化电芯内部的微纳米级缺陷，也可以轻松识别并分析。

我们深知不同用户对电池材料测试的需求存在差异。无论您是电池材料生产商还是研究机构，我们都能够为您提供适合的检测方案。我们的SEM扫描电镜检测技术可以帮助您快速获得电池材料的微观形貌、成分分布和晶体结构等信息，为您的研究和生产提供准确的数据支持。

作为一家专业的电池材料测试公司，我们拥有一支高度专业化的团队。我们的工程师均有锂钠电池专业或从业背景，熟悉产品研发与测试分析路径，对用户测试需求及想要得到的结果非常熟悉，有成功开发上百家新能源电池材料企业的经验。由于我们的专业性和服务质量，许多企业都选择与我们建立长期合作关系，信赖我们的专业能力和服务品质。这种长期合作和信赖是我们持续提供满意的服务的动力和保障。 SEM扫描电镜可以帮助客户优化电池材料的能量密度和充放电性能。快速SEM扫描电镜+CP硅酸铁锂晶界分布特征检测

在锂电池产业链的上游及中游,原材料及产品质量控制工作需要借助仪器分析手段对正负极材料、电解液、隔膜等原材料进行检测分析,锂电池的产品性能及安全性能的方面的研发工作也需要对电池的各部分进行理化性能分析。

科学指南针接到客户要求对电池正极材料表面和截面结构进行深入的研究,以了解其对电池性能的影响。希望通过对元素分布和形貌的研究,找到提高电池性能的关键因素。

解决方案专业团队首先使用氩离子切割(CP)制样技术,将电池正极材料切割成适合观察的尺寸和形状。后使用扫描电子显微镜(SEM)深入观察到材料的形貌、颗粒尺度、包覆层以及元素掺杂情况。

后来为客户提供清晰、详细、准确的观察结果,帮助客户了解电池正极材料的表面结构对电池性能的影响,辅助客户顺利开展电池性能提升研发工作。

高清SEM扫描电镜隔膜孔径大小测量测试我们的检测技术利用SEM扫描电镜，可以对电池材料中的纳米结构进行表征。

锂电池的结构中,隔膜是关键的内层组件之一。隔膜的性能决定了电池的界面结构、内阻等,直接影响电池的容量、循环以及安全等特性,性能优异的隔膜对提高电池的综合性能具有重要的作用。而隔膜性能的评测需要借助到扫描电镜来进行检测。尤其对于锂电池系列,由于电解液为有机溶剂体系,因而还需要使用耐有机溶剂的隔膜材料,目前一般采用的是较高的强度薄膜化的聚烯烃多孔膜。

为保证低的电阻和高的离子电导率,对锂离子有很好的透过性,必须保证隔隔膜有一定的孔径和孔隙率,为了检验隔膜的这种能力,就需要用到扫描电镜来进行微观观测,确保隔膜的孔径大小户尺寸范围以及孔径是否均一,膜上是否有划痕、凹坑等缺陷。通过SEM扫描电镜检测，能够监控隔膜的微观结构，从而在生产过程中实现对质量的严格把控。此项服务可有效解决在电池材料质量方面的痛点和需求，助力实现生产效率和产品质量的双重提升。

作为新能源电池材料检测先导者，我们390+仪器类型任你选，实现材料测试全覆盖；技术人员100%硕博学历，行业经验3年起，够专业！20个大型服务研发需求的专业实验室，斥资超2亿购买仪器设备,快的项目当天出结果;31个办事处，覆盖全国主要城市，支持上门取样，为您提供全方面的服务支持。

SEM 是电池材料形貌表征便捷的表征手段之一,能清楚地反映和记录材料的三维形貌特征,粉末、块状、片状的电极材料均可用SEM进行直接观察,获得不同放大倍数的图像。SEM被用于探索电池循环过程中材料的形貌变化规律,探究材料性能,辅助研究电池的充放电机制,间接获得电池反应速率和循环稳定性等信息,从而优化电池性能。电池是由电极、电解质与隔膜等材料组成,能将化学能转化成电能的装置。

目前,SEM已被应用在锂-空气电池、锂-硫电池等多种电池体系的设计研发中:锂-空气电池易被放电产物(Li,0g)堵塞碳正极的反应活性位点而失效,利用SEM记录循环过程中正极材料的形貌变化可以辅助研究电池的失效机理,通过设计优化电池材料来实现电池的长效循环。

我们以分析测试为主，提供包含材料测试、行业解决方案 、云现场、环境检测、模拟计算、数据分析、试剂耗材、指南针学院等在内的研发服务矩阵。总部位于杭州，已在杭州、上海、北京、广州、济南、长沙、武汉、郑州等十多个地区建立了研发中心，立足中国制造，为全国客户提供先进材料的整体解决方案。我们以专业、高质量的SEM扫描电镜检测技术为您解决电池材料测试的问题。选择我们，您将得到准确、可靠的测试结果，我们期待与您合作。 通过SEM扫描电镜，我们能够对电池材料的界面结构和界面反应进行研究。

在电池材料领域,通过包覆来复合两种材料是一种常见的策略,可以充分利用两种材料的优势,扬长避短,获得具有更加优异电化学性能的新材料。

例如在材料表面包覆一层均匀的碳层,一方面可以提升材料的电导性,另一方面可以稳定材料在充放电过程中的体积变化进而提升其结构稳定性。所以对包覆层的元素进行研究,可以科学地研究掺杂、包覆以及浓度梯度化的改性效果,以及准确地对关键材料的质量工艺进行控制。使用电子探针(EPMA)微观检测十分重要,能够解决扫描电镜+能谱仪(SEM+EDS)在低浓度元素检测上的不足。与SEM-EDS同为微区分析的电子探针显微分析仪(EPMA),在形貌观察的同时,更偏重元素成分的分析,在大束流激发源的加持下保证更好的信号激发,从而具有良好的微区分析灵敏度,在浓度梯度、表面包覆额和掺杂元素的表征上效果明显。

我们的检测团队重点成员全部来自美国密歇根大学，卡耐基梅隆大学，瑞典皇家工学院，浙江大学，上海交通大学，同济大学等海内外名校，为您对接测试的项目经理 100%硕士及以上学历。效率高，专业能力强，针对性强，助力企业产品高效研发。 通过SEM扫描电镜，我们能够对电池材料进行成分分析和元素分布观察。高效SEM扫描电镜钛酸锂微区元素分布分析测试ppmppb

SEM扫描电镜检测能够提供电池材料中微观结构的三维重建和可视化展示。快速SEM扫描电镜+CP硅酸铁锂晶界分布特征检测

负极极片表面包覆层分析

客户需求

在电池制造工艺中,表面包覆层不仅关乎电池的性能提升,还能够防止电极与电解质的反应,从而延长电池的使用寿命。然而,由于表面包覆层非常薄,制备和测试分析变得更加困难。因此,需要采用先进的技术和设备来检测其元素分布和形貌。

解决方案

FIB透射制样技术常用于制备细微样品,可以在非常小的切片尺寸下进行高质量的切割和观察,通过FIB制备样品,我们可以观察到表面包覆层的微观结构和元素分布。而SIEM作为表面形貌分析利器,可以在很小的尺寸范围内观察样品的表面形貌和细节。配合使用TEM这种更高分辨率的显微镜,可以提供更细致的样品形貌和元素分布。

检测结果

FIB+SEM极片 快速SEM扫描电镜+CP硅酸铁锂晶界分布特征检测