便携式组件EL检测仪厂商

发光成像方法为太阳电池缺点检测提供了一种非常好的解决方案，这种检测技术使用方便，类似的二维化面检测。本文讨论的是光致发光技术在检测晶体Si太阳电池上的应用。光致发光(photoluminescence，PL)检测过程大致包括激光被样品吸收、能量传递、光发射及CCD成像四个阶段。通常利用激光作为激发光源，提供一定能量的光子，Si片中处于基态的电子在吸收这些光子后而进入激发态，处于激发态的电子属于亚稳态，在短时间内会回到基态，并发出以1150 nm的红外光为波峰的荧光。利用冷却的照相机镜头进行感光，将图像通过计算机显示出来。发光的强度与本位置的非平衡少数载流子的密度成正比，而缺点处会成为少数载流子的强复合中心，因此该区域的少数载流子密度变小导致荧光效应减弱，在图像上表现出来就成为暗色的点、线，或一定的区域，而在电池片内复合较少的区域则表现为比较亮的区域。因此，通过观察光致发光成像能够判断Si片或电池片是否存在缺点。上海欧普泰科技创业股份有限公司是一家专业提供检测的公司，有需求可以来电咨询！便携式组件EL检测仪厂商

EL英文全称ElectroLuminescence，即电致发光，也可以叫电子发光检测。通过利用晶体硅的电致发光原理，配合辨率的红外相机拍摄晶体硅的近红外图像，通过图像软件对获取成像图像进行分析处理从而对太阳能电池片、光伏组件等的缺点判定。目前EL检测应用在光伏行业方面，如光伏组件的缺点检测、太阳能电池片内部缺点检测、硅片隐裂检测等。在光伏组件、光伏电站中采用便携式的EL检测仪，可以适应不同环境、不同场所的应用，方便其对光伏组件产生的内部缺点进行快速识别判断。产品检测厂商检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，用户的信赖之选，有需要可以联系我司哦！

对于整体组件在封装成后，如何把控质量与技术呢?这就会出现各种各样的问题。目前，组件质量的把控能力，主要通过样品的测试结果来反映。组件的发电量会根据接受的辐照度呈现不规则线性变化。通过低辐照度下电性能测试，可以有效了解产品是否适合在日照条件较差的地区使用。由于组件老化、缺陷或者环境遮蔽会导致过热现象。通过热斑测试，可以确定组件耐热斑热效应的能力。在温度较高地区容易出现由于接地条件差异和电势差导致的性能衰减。通过PID电致衰减测试，可以研究组件及系统电势对组件性能衰减的影响。在保证零部件可靠性的同时，组件的密封性能将直接影响封装在组件的使用寿命。通过EVA剥离强度测量，定量测量组件封装强度，可有效避免因封装工艺的缺陷导致的损失。无论封装技术如何发展，都必须保证玻璃与EVA之间的剥离强度不能低于40N/CM。否则，组件的可靠性将成为比较大的问题。

给晶硅组件施加电压后，所激发出的电子和空穴复合的数量越多，其发射出的光子也就越多，所测得的EL图像也就越亮；如果有的区域EL图像比较暗，说明该处产生的电子和空穴数量较少，该处存在缺点；如果有的区域完全是暗的，该处没有发生电子和空穴的复合，也或者是所发光被其它障碍所遮挡，无法检测到信号。隐裂种类虽然众多，但不是所有的隐裂都会对电池片有影响。在组件生产、运输、安装和维护过程中，考虑到晶硅组件的易裂特征，需要在安装电站的各个过程注意并改进作业流程，尽量减少组件隐裂的产生。对于检测隐裂，目前EL是的方法。而导致组件隐裂的原因众多，要弄清楚原因后再追究责任，不能盲目听信他人之言。上海欧普泰科技创业股份有限公司检测获得众多用户的认可。

电位诱发衰减效应是电池组件长期在高电压作用下，使玻璃、封装材料之间存在漏电流，大量电荷狙击在电池片表面，使得电池表面的钝化效果恶化，导致组件性能低于设计标准。PID现象严重时，会引起一块组件功率衰减50%以上，从而影响整个组串的功率输出。系统设计原因：光伏电站的防雷接地是通过将方阵边缘的组件边框接地实现的，这就造成在单个组件和边框之间形成偏压，组件所处偏压越高则发生PID现象越严重。对于P型晶硅组件，通过有变压器的逆变器负极接地，消除组件边框相对于电池片的正向偏压会有效的预防PID现象的发生，但逆变器负极接地会增加相应的系统建设成本;上海欧普泰科技创业股份有限公司是一家专业提供检测的公司，有想法可以来我司咨询！AI检测仪器厂家

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当被施加正向偏压之后，晶体硅电池就会发光，波长1100nm左右，属于红外波段，肉眼观测不到。因此，在进行EL测试时，需利用CCD相机辅助捕捉这些光子，然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。给晶硅组件施加电压后，所激发出的电子和空穴复合的数量越多，其发射出的光子也就越多，所测得的EL图像也就越亮；如果有的区域EL图像比较暗，说明该处产生的电子和空穴数量较少，该处存在缺点；如果有的区域完全是暗的，该处没有发生电子和空穴的复合，也或者是所发光被其它障碍所遮挡，无法检测到信号。便携式组件EL检测仪厂商

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