北京推拉力芯片测试机公司

该测试方法包括以下步骤：s1：将多个待测试芯片放置于多个tray盘中，每一个tray盘中放置多个待测试芯片，将多个tray盘放置于自动上料装置40，并在自动下料装置50及不良品放置台60上分别放置一个空tray盘。例如每一个tray盘较多可放置50个芯片，则在自动上料装置40的每一个tray盘中放置50个芯片，然后可以将10个装满芯片的tray盘放置于自动上料装置40上，且10个tray盘上下叠放。s2：移载装置20从自动上料装置40的tray盘中取出待测试芯片移载至测试装置30进行测试。芯片测试机可对芯片的上市时间作出评估。北京推拉力芯片测试机公司

优先选择地，所述机架上还设置有预定位装置，所述预定位装置包括预定位旋转气缸、预定位底座及转向定位底座，所述预定位底座与所述预定位旋转气缸相连，所述预定位底座位于所述预定位旋转气缸与所述转向定位底座之间，所述转向定位底座上开设有凹陷的预定位槽。优先选择地，所述预定位装置还包括至少两个光电传感器，所述机架上固定有预定位气缸底座，所述预定位旋转气缸固定于所述预定位气缸底座上，所述预定位气缸底座上设有相对设置的四个定位架，所述预定位底座及转向定位底座位于四个所述定位架支之间，两个所述光电传感器分别固定于两个所述固定架上。集成电路芯片测试机厂家供应芯片测试机支持多种测试模式。

晶圆、单颗die和封装的芯片。Wafer就是晶圆，这个由Fab进行生产，上面规则地放着芯片（die），根据die的具体面积，一张晶圆上可以放数百数千甚至数万颗芯片（die）。Package Device就是封装好的芯片，根据较终应用的需求，有很多种形式，这个部分由芯片产业价值链中的封装工厂进行完成。Prober--- 与Tester分离的一种机械设备，主要的作用是承载wafer，并且让wafer内的一颗die的每个bond pads都能连接到probe card的探针上，并且在测试后，移开之前的接触，同时移动wafer，换另外的die再一次连接到probe card的探针上，并记录每颗die的测试结果。

在开始芯片测试流程之前应先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的内部电路，主要参数指标，各个引出线的作用及其正常电压。diyi部工作做的好，后面的检查就会顺利很多。芯片很敏感，所以测试的时候要注意不要引起引脚之间的短路，任何一瞬间的短路都能被捕捉到，从而造成芯片烧坏。另外，如果没有隔离变压器时，是严禁用已经接地的测试设备去碰触底盘带电的设备，因为这样容易造成电源短路，从而波及普遍，造成故障扩大化。焊接时，要保证电烙铁不带电，焊接时间要短，不堆焊，这样是为了防止焊锡粘连，从而造成短路。但是也要确定焊牢，不允许出现虚焊的现象。在有些情况下，发现多处电压发生变化，此时不要轻易下结论就是芯片已经坏掉了。要知道某些故障也能导致各个引脚电压测试下来与正常值一样，这时候也不要轻易认为芯片就是好的。芯片测试机还可以进行电压测试以测试电压饱和和开路。

机架上还设置有预定位装置，当待测试芯片的放置方向与测试装置测试时需要放置的芯片的方向不一致时，可以首先将待测试芯片移动至预定位装置，通过预定位装置对芯片的放置方向进行调整，保障芯片测试的顺利进行。芯片测试完成后再移动至预定位装置进行方向调整，保障测试完成后的芯片的放置方向与芯片的来料方向一致。机架上还固定有中转装置，自动上料装置的tray盘一般都是满盘上料，如果在测试过程中出现不良品，则自动下料装置的tray盘可能出现放不满的情况。此时可通过移载装置先将自动上料装置的空tray盘移载至中转装置，然后自动上料装置的另一个tray盘中吸取芯片进行测试，当自动下料装置的tray盘放满芯片后，再将中转装置的空tray盘移动至自动下料装置放满芯片的tray盘上方，从而保障自动下料装置的tray盘也为满盘下料。芯片测试机可以提供精确的数据，帮助工程师快速理解芯片性能。集成电路芯片测试机厂家供应

芯片测试机能够进行电气特性测试。北京推拉力芯片测试机公司

测试如何体现在设计的过程中，下图表示的是设计公司在进行一个新的项目的时候的一般流程，从市场需求出发，到产品tape out进行制造，包含了系统设计、逻辑设计、电路设计、物理设计，到然后开始投入制造。较下面一栏标注了各个设计环节中对于测试的相关考虑，从测试架构、测试逻辑设计、测试模式产生、到各种噪声/延迟/失效模式综合、进而产生测试pattern，然后在制造完成后进行测试，对测试数据进行分析，从而分析失效模式，验证研发。北京推拉力芯片测试机公司