湖北晶圆测试探针台定制

目前，市面上定位器主要的形式有三种：（1）燕尾导向型。使用燕尾导向机构，可有效地降低产品成本。缺点是，直线导向精度比交叉滚子导轨要差，并不适用于高精度操作。通常看到该类配置都是与配套了体视显微镜的探针台搭配使用。（2）交叉滚子导轨导向型。相比于燕尾导轨，直线精度有效地提高了。适用于目前大部分客户的定位需求。缺点是，超高倍数下因为机构原因（XYZ机构是像蛋糕一样一层叠一层），手部操作的震动很容易传递到探针上。在高倍下探针的震动会被观察到，很影响用户扎探针。比如要把探针扎到几微米甚至1微米左右的PAD上，将会相对比较困难。（3）交叉滚子导向、高稳定型。该结构设计把定位器上移动机构（XYZ）和驱动丝杆分开，能有效地将手部操作产生的震动隔离，实现真空意义上的高精度、高稳定操作（Submicron Probing）。探针台的科研成果有助于人类更有效地保护地球和地球上的所有生命。湖北晶圆测试探针台定制

探针台是半导体行业重要的检测装备之一，其普遍应用于复杂、 高速器件的精密电气测量，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。半导体测试可以按生产流程可以分为三类：验证测试、晶圆测试测试、封装检测。探针台主要用于晶圆制造环节的晶圆检测、芯片研发和故障分析等应用。除探针台外，晶圆检测环节还需要使用测试仪/机，测试仪/机用于检测芯片功能和性能，探针台实现被测芯片与测试机的连接，通过探针台和测试机的配合使用，可以对晶圆上的裸芯片进行功能和电参数测试或射频测试，可以对芯片的良品、不良品的进行筛选。上海高精度探针台厂商探针台的建设需要克服地球环境和宇宙环境的技术差距。

机械手放置在平台的平面上，并在机械手中插入探针臂和先进。探头先进必须适合要执行的测试程序。然后，用户通过调整相应的操纵器将探针先进精确定位在设备内的正确位置。然后通过降低压板使探针与晶片接触；现在可以测试该设备。对于具有多个器件的晶圆，在测试头一个器件后，可以升起压板并将支撑晶圆的平台移动到下一个器件。重复定位探针先进的过程，直到测试完所有必需的设备。这个过程都可以由操作员手动完成，但如果载物台和机械手是电动的，并且显微镜连接到计算机视觉系统，那么这个过程可以变成半自动或全自动。这可以提高探针台的生产力和吞吐量，并减少运行多个测试所需的劳动力。

探针台由哪些部分组成？样品台（载物台）：是定位晶圆或芯片的部件设备。通常会根据晶圆的尺寸来设计大小，并配套了相应的精密移动定位功能。光学元件：这个部件的作用使得用户能够从视觉上放大观察待测物，以便精确地将探针先进对准并放置在待测晶圆/芯片的测量点上。有的采用立体变焦显微镜，有的采用数码相机，或者两者兼有。探针（探针卡）：待测芯片需要测试探针的连接，才能与测试仪器建立连接。常见的有普通 DC 测试探针、同轴DC测试探针、有源探针和微波探针等。探针头插入单个探针臂并安装在操纵器上。探针先进尺寸和材料取决于被探测特征的尺寸和所需的测量类型。探针尖直接接触被测件，探针臂应与探针尖匹配。探针台是推进太空探索和航天事业的重要一环。

探针台分类，探针台从操作上来区分有:手动，半自动，全自动，从功能上来区分有:温控探针台，真空探针台(较低温探针台)，RF探针台，LCD平板探针台，霍尔效应探针台，表面电阻率探针台。经济手动型，根据客户需求定制：chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可选)；X-Y移动行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可选)；chuck Z轴方向升降10mm(选项)方便探针与样品快速分离；显微镜:金相显微镜、体式显微镜、单筒显微镜(可选)；显微镜移动方式:立柱环绕型、移动平台型、龙门结构型(可选)；探针座:有0.7um、2um、10um精度可选，磁性吸附带磁力开关；可搭配Probe card测试；适用领域:晶圆厂、研究所、高校等。探针台能够帮助科学家解决在太空探索过程中的技术难题。江苏半导体晶圆测试探针台设备

探针台能够观测到远离地球的星系和恒星群。湖北晶圆测试探针台定制

探针台在使用过程中，不可用硬物接触机器，以免发生故障或危险。探针台光学部件清洁时，可用镜头纸蘸无水酒精从中间向外轻轻的擦拭。无水酒精时易燃物，注意使用安全。停电或长期不用、外出旅行时，请将电源线插头拔掉以维护机器寿命。操作人员必须严格按要要求操作，以保证数据的准确和仪器的正常使用。工作环境。探针台应放在稳定可靠的台面上，较好是具有防震装置的工作台上，避免在高温，潮湿激烈震动，阳光直接照射和灰尘较多的环境下使用。湖北晶圆测试探针台定制