广州SIR和CAF表面绝缘电阻测试分析

时间:2024年01月14日 来源:

AF与ECM/SIR都是一个电化学过程;从产生的条件来看(都需要符合下面3个条件):电解液环境,即湿度与离子(Electrolyte–humidityandionicspecies);施加偏压(Voltagebias–Forcethatdrivesthereaction);存在离子迁移的通道意味着玻纤与树脂的结合间存在缺陷,或线与线间存在杂物等;(“Pathway”–Awayfortheionstomovefromtheanodetothecathode;Thepathwayisalongtheglassfiberswhentheresinimpregnationtotheglassfibershavedefects);加剧其产生的条件类似:高湿环境(Highhumidityrate);高电压(HigherVoltagelevels);高温环境(Highertemperature);CAF测试——电路板离子迁移测试的有效方法!广州SIR和CAF表面绝缘电阻测试分析

电阻测试

智能电阻具有更高的可追溯性。在电子行业中,产品的质量追溯是非常重要的。传统的电阻测试往往无法提供完整的测试记录和数据,难以进行产品质量的追溯。而智能电阻通过内置的存储器和通信模块,可以实时记录测试数据,并将数据上传到云端进行存储和管理。这样,不仅可以方便地查看和分析测试数据,还可以追溯产品的质量问题,及时采取措施进行改进和优化。智能电阻有望推动电子行业的智能化发展。随着物联网和人工智能技术的不断进步,智能电阻可以与其他智能设备进行连接和交互,实现更高级的功能。例如,智能电阻可以与智能手机或智能家居设备连接,实现远程控制和监测。这将为电子行业带来更多的商机和发展空间。江苏国内电阻测试售后服务选择智能电阻时,用户需要考虑测量范围和分辨率。

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1、保持测试样品无污染,做好标记,用无污染手套移动样品。做好预先准备,防止短路和开路。清洁后连接导线,连接后再清洁。烘干,在105±2℃下烘烤6小时。进行预处理,在中立环境下,保持23±2℃和50±5%的相对湿度至少24h。2、在该测试方法中相对湿度的严格控制是关键性的。5%的相对湿度偏差会造成电阻量测结果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置电压加载的情况下,一旦水凝结在测试样品表面,有可能会造成表面树枝状晶体的失效。当某些烤箱的空气循环是从后到前的时候,也可能发现水分。凝结在冷凝器窗口上的水有可能形成非常细小的水滴**终掉落在样品表面上。这样可能造成树枝状晶体的生长。这样的情况必须被排除,确保能够得到有意义的测试结果。虽然环境试验箱被要求能够提供并记录温度为65±2℃或85±2℃、相对湿度为87+3/-2%RH的环境,其相对湿度的波动时间越短越好,不允许超过5分钟。

离子迁移绝缘电阻测试是一种常用的电子产品质量检测方法。它通过测量材料的离子迁移速率和绝缘电阻值,来评估材料的质量和可靠性。离子迁移是指在电场作用下,材料中的离子在电极之间迁移的现象。离子迁移速率是评估材料质量的重要指标之一,因为离子迁移会导致电子产品的故障和损坏。离子迁移速率越高,材料的质量越差,对电子产品的可靠性影响也越大。绝缘电阻是指材料对电流的阻碍能力。绝缘电阻值越高,材料的绝缘性能越好,对电子产品的保护作用也越强。绝缘电阻测试可以帮助检测材料的绝缘性能,从而评估材料的质量和可靠性。监测模块:状态、数据曲线、测试配置、增加测试、预警。

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5.1.硬件连接与操作步骤1)事先准备好要求测试的PCB样品,接好测试线,插入相对应的航空座。2)把纳伏表和可编程电源安装好,连接仪器与计算机通信线。3)接好机柜电源,并检查仪器是否有错误提示,如有提示需先按照仪器说明把错误提示排除。4)根据软件操作设置开始测试流程。注意:※在测试的过程禁止触摸被测物品。※禁止带电拔插测试线的航空头。※如需设备检修必须把电断开。本系统只提供自有版权的导通电阻实时监控测试操作软件,Windows操作系统、MS-office软件及相关数据库由客户自行购买*该系统可根据客户的不同需求,定制特殊要求以实现更多功能除了基本的电阻测试功能外,智能电阻还可以提供其他附加功能。东莞CAF电阻测试性价比

在电子设备领域,表面阻抗测试SIR测试被认为是评估用户线路板组装材料可靠性的有效评估手段。广州SIR和CAF表面绝缘电阻测试分析

从监控的方式看:都是通过监控其绝缘阻值变化作为**重要的判断指标;故很多汽车行业或实验室已习惯上把ECM/SIR从广义上定义为CAF的一种(线与线之间的表面CAF)。ECM/SIR与CAF的联系与差异差异点:从产生的原因看:ECM/SIR是在PCB的表面产生金属离子的迁移;而CAF是发生在PCB的内部出现铜离子沿着玻纤发生缓慢迁移,进而出现漏电;从产生的现象看:ECM/SIR会在导体间出现枝丫状(Dendrite)物质;而CAF则是出现在孔~孔、线~线、层~层、孔~线间,出现阳极金属丝;广州SIR和CAF表面绝缘电阻测试分析

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