IN140/5红外测温仪解决方案
上海明策电子科技有限公司所代理的产品双色红外测温仪由光学系统,分**或滤光片,红外探测器,信号处理器以及显示输出部分组成。工作原理:红外辐射能量被透镜接收并聚焦在双波段滤光片红外探测器上,滤光片将红外辐射能分成两个波段,波长范围为μm和μm.。通过每个滤光片的红外辐射被两个**的红外探测器接收并转换成电信号,然后经过信号处理器计算两个信号的比值及环境温度补偿后给出测温数据并显示输出。双色测温仪是测量物体在两个不同光谱范围发出的辐亮度,并将这两个辐亮度之比换算成物体的温度。因此,在原理上根本不同于单色测温仪。双色测温仪的关键在于两个波段的选择。选择原则为:两个波段的信号比值对温度的变化敏感,当温度有较小变化时,两个波段内信号的比值仍然较大,这样就会使仪器有较大的温度分辨率。 IGAR 12-LO数字式双色测温仪,配有光纤,300-3300°C的非接触温度。IN140/5红外测温仪解决方案
我们都知道红外测温仪是测量一个点的温度,红外热像仪是测量一个面的温度,但是IMPAC有一款结合了辐射测温和热成像的新型红外测温仪。它是固定式,数字式高温计用于700-1800℃之间的金属、石墨、陶瓷的非接触式温度测量。内置视频采集系统,它能够精确测量中心点的温度并使用一个红外滤镜来显示根据精确(且在很大程度上**)的测温读数自校正的热像图。系统以高质量的双色(比色)测温仪为基础,结合了摄像机和短波红外滤镜。模拟视频输出信号,通过使用一个外部视频采集器被转换并用标准测温软件导入电脑。InfraWin通过该信号和由比色测温仪测量的中心点的精确温度读数为基础从而显示一个伪彩色热图像。*需2毫秒的响应时间,所以可用于测量快速的过程。同时具有其他的标准功能,诸如内置“视窗污染”报警。内置摄像系统有一个接近测温仪波长范围的红外滤镜。这使得用标准测温仪软件Infrawin显示一个“简单的”热像图变得可能。它就是ISR6-TIAdvanced高性价比的温度测量,不仅能精确的测量单点的温度,还能够显示感兴趣的(围绕和关于该点的)温度分布。 IN140/5红外测温仪解决方案IS 8 pro红外测温仪响应时间短,有1毫秒,可以准确测量移动物体且能够快速识别温差。
在热轧过程中,钢坯在加热炉内被加热,以便软化后轧制。如果金属温度太低,在其后的轧制过程中将因太硬而产生表面裂缝,同时也会使轧制设备受到损坏。而如果金属温度太高,在轧制过程中将出现表面破裂、熔化或瑕疵。如果金属受热不均匀,钢材将出现不规则变形,导致产品质量低劣,甚至废品。对单色红外测温仪钢坯测温时,有氧化皮、水汽等影响,其中氧化皮发射率高,钢坯发射率低。使用双色红外测温仪无氧化皮带来的发射率影响,双色测温技术消除了大部分水汽的影响,同时测温仪透镜轻微污染不影响测温。采用双比色测温原理直接测量目标的真实温度,而基本不受材料辐射率的影响,无需进行发射率的补偿。IMPAC双色测温仪有一体式和分体式,一体式采用的是镜头机身合为一体的设计理念,机身轻巧便携,无额外光纤限制,减少了成本与空间花费,使得测量应用中可以**降低成本预算,减小空间需求,保证测温准确。分体式采用的是机身与镜头分离的设计理念,在高温/高压/电磁场等环境中,只放进一个测温镜头,通过光纤传输光信号,很大程度的减少了环境的干扰项,保证测量的准确无误。
随着新工业,特殊材料,高性能单晶多晶体等各种的新型材料产生,这些材料的研发制造都离不开“高温炉”的塑造,材料研发,成型,加工,性能甄别都是需要这样一种高温炉进行产品的制造。真空感应加热炉就是其中的一种。
740系列是固定式测温仪,用于非接触式测量金属表面、石墨或陶瓷等物体的温度。由于响应时间快,*6微秒,可适用于高速测量应用。740系列有两种型号可供选择,小巧型IGA740配备了集成镜头,IGA740-LO配备了光纤和光纤测头。
IGA 740有聚焦镜头或微距镜头可供选择。聚焦镜头可测量450-3000毫米范围内的物体,实现小的光斑尺寸。根据测温范围,微距镜头可实现固定距离处0.7或1毫米的光斑尺寸。 通过所配备的InfraWin软件来读取温度和测温仪参数。如有需要,测温仪参数也可通过电脑进行更改。
购买红外测温仪前大家都会有各种各样的问题,比如需要的温度范围,或者发射率的大小等等**小小的问题,确实确定好这些问题的话更加容易的帮助我们来选型号,只有适合的型号才能给我们的工作带来更大的便利,下面上海明策电子科技有限公司就给大家解决一些老客户常见的一些问题。1:测金属,可以选用固定发射率(ε=)的红外测温仪吗?答:不可以!红外温度检测的准确性和物体表面材料的红外系数—发射率有关。发射率和物体的表面材料有关。通常非金属材料的发射率大都是固定的,例如布匹、柏油、陶瓷、塑料、纸张等(ε=),但金属材料种类有很多,发射率和材料及表面光洁度有关系。可以参考相关手册和说明书。如果只用来测量非金属材质表面的物体,可以采用固定发射率的测温仪。测量金属物体温度,应该采用发射率可调的红外测温仪。如果用固定发射率,将会带来极大的偏差。 在这个特殊的光谱范围内,硅的辐射率为67%,且不受温度影响。IN140/5红外测温仪解决方案
3.9微米窄谱范围可避免湿度和CO2的影响,且能够透过火焰和燃烧气体进行准确的测量。IN140/5红外测温仪解决方案
微波等离子体CVD(MicrowavePCVD,MPCVD)将微波发生器产生的微波用波导管经隔离器进入反应器,并通入CH4与H2的混合气体,在微波的激励下,在反应室内产生辉光放电,使反应气体的分子离化,产生等离子体,在衬底上沉积得到金刚石膜。由于被测物被等离子云包裹,在多次加热的工况中,每次测量的数据重复性和稳定性必须极高,如果每次测量差异过大,测量数据将毫无意义;衬底材料的变化,同质外延,异质外延;视窗材料的选择这些都加大了测温的难度。双色测温仪能够消除水汽、灰尘、检测目标大小变化、部分被遮挡、发射率变化等的影响,双色测温仪测量绝大数灰体材料时不需要修正双色系数,双色测温仪测量一个区域内最高温度的平均值。双色红外测温仪可以克服严重水汽、灰尘、检测目标大小变化、部分被遮挡、发射率变化等的影响,即使检测信号衰减95%,也不会对测温结果有任何影响IGAR6系列红外测温仪,可以宽温度范围可以适应更灵活的工作方式,极高的准确性和重复性;“视窗污染”警报;2ms的高速动态过程响应时间;同类中较好的光学手动聚焦功能4位LED显示屏坚固,不锈钢传感器适用于恶劣环境(IP65/NEMA4)。 IN140/5红外测温仪解决方案
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