金属表面测温高精度红外测温仪调试

IPE140/34红外测温仪是IPE140的一款特殊版本，专门为非接触式测量塑料薄膜的温度而设计，尤其是用来测量厚度大于30微米的极薄聚乙烯薄膜和聚丙烯薄膜。专门针对塑料薄膜测温而开发，测温范围和光学镜头都是专门优化的;使得该特殊型号的测温仪能够在3.43微米的极窄光谱范围内对测量目标辐射的红外能量探测，并实现塑料薄膜的精确测温。该特殊型号与IPE140一样，具有140系列的所有功能和特性。

可选镜头:镜头1:测量距离100mm-142mm;

镜头2:测量距离185mm-390mm;

镜头3:测量距离305mm-1900mm。 明策IMPAC IN520 木材、橡胶行业测温佳选！金属表面测温高精度红外测温仪调试

ISR12-LO/GS测温仪是专门为铸造行业开发的，用于测量浇注流温度的一个特殊测温系统;该系统用于自动化或半自动化浇注机，并可在单个浇注过程后显示温度。这一应用需要使用比色测温仪是由于:熔融金属的辐射率很低且具有波动性浇注流的位置是移动的，便于遮住测温仪的部分测量光斑该测温仪有一个特殊的浇注流模式，用于计算单个铸造过程中的平均温度值。为了不影响测量的正确性，测温仪可消除铸造过程中开始与结束时的温度值。镜头中光斑尺寸的形状是一条线，即使测量的是一个移动的浇注流，也能确保浇注流始终在光斑范围之内。该测温仪配备了一个镜头污染检测系统。一旦由于镜头或瞄准视窗污染而造成信号强度减弱，信号输出就会切换至一个报警传输器中。每个铸造部件以及里个铸造过程中的浇注流温度中(SR12-L0/GS自动记录。每个已完成铸造讨程的温度值显示在该测温仪中，并日可作为模拟和数字输出。这样就可以精确地控制铸造过程，实现铸造部件的高质量需求。测量值通过模拟和数字输出进行储存和显示。明策科技高精度红外测温仪特性明策高精度红外测温仪IMPAC IGA6，技术参数优越，可在珠宝加工行业发挥重要作用。

IMPACIGA 320红外测温仪是一款短波、固定式红外测温仪，采用内部字信号处理，主要用于测量金属、石墨、陶瓷、复合材料等各种材料的温度，广泛应用于感应加热、钢铁、锻造、轧钢、金属熔融、激光焊接、工业自动化设备等各种行业;

测温范围:300..2500℃。小巧的机身使其能够安装在小型生产设备上，坚固耐用的设计确保了恶劣工业环境现场应用中的稳定性。该测温仪有多种镜头可选，可以实现较小的光斑尺寸。

LED靶光可精确地瞄准测量物体，测量时会自动启动。除了模拟输出外，测温仪还配备了一个RS485数字接口，可确保数据通过长距离安全地传输至电脑或PLC控制器。随机配备的lnfraWin软件可显示图形与存储测量数据，并可对仪器的所有参数进行简便地设置。

ISR 6-T Advanced红外测温仪是一款集成比色(双色)红外测温仪和红外成像仪的测温和成像仪器;它能够精确测量视窗中心点的温度，并能够对视窗内的被测目标物体进行红外成像;它是在1SR6Advanced比色红外测温仪的基础上，集成了红外热成像仪，能够通过模拟视频信号输出接口，采用USB连接到电脑上，在Infrawin软件上形成红外热图像和温度信息，我们能够在红外图像中对感兴趣的ROI区域进行红外成像分析;可用于金属熔炼、真空炉、涂层、感应加热、玻璃行业、半导体行业等。明策红外测温仪，功能齐全，可在船舶制造行业进行温度监测。

IS8-GSpro手持式红外测温仪具有全数字处理功能，测温范围宽，测温精度高，还增加了图表处理功能，仪器带高清晰液晶屏，可通过液晶屏实时观察并分析测量结果，主要用于铸造厂铸造测温。

IS8-GSpro采用铸铝外壳，专为恶劣工业环境下的日常应用设计，其精密的调焦镜头，可轻松测量500毫米以外小目标物体的温度，测温数据可在取景器内部显示，且明亮、优化的取景器上带有明确的光斑标示，这样我们可以快速、精确的瞄准被测目标点，从而得到正确、准确的被测点温度。

此外，大容量数据存储为后续数据分析提供了可能性。IS8-GSpro的响应时间极短，才1毫秒，可以精确测量移动物体目能够快速识别温差。测量过程中的最高温度值可以存储在内罟的峰值拾取器中(最大值存储)。对干高温物体，IS8pr0在600-2500℃有两个温度段可选;对干中温物体，可以选用IGA8pro，温度范围为250-1600℃;1S8-GSpro则专业用干铸造业。这款仪器主要应用于铸造厂。 明策红外测温仪，操作简单，测温准确，适用于艺术工作室的温度测量。明策高精度红外测温仪特点

明策高精度红外测温仪，性能出色，可在纺织行业检测设备温度。金属表面测温高精度红外测温仪调试

UV400的前身TR2100是*采用集成反射计(2001年)的高温计，为使用光纤镜头和950nm激光实时测量发射率建立了行业标准。

蓝宝石光管传感器和实时的黑体校准源取得的研究进展提供了完整的温度测量解决方案。UV400和UVR400系统是专门为GaN基MOCVD外延工艺开发的下一代温度传感器。这些传感器可以直接测量晶圆表面温度，而非传统的基座温度。UVR400较UV400增加了一个635nm，0.5kHz测量速度的反射率测量仪，可测量沉积厚度.这些系统正在为LED生产过程设定一个新的标准，其结果显示工艺温度和终产品波长之间存在可靠的相关性.这种直接测量的方法可以更精确地控制晶片温度，从而提高成品率主要特点使用紫外波段直接测量GaN层温度；

使用脉冲光源实时快速测量发射率；

使用真正的光计数仪器将测量中的噪声降至低；

防止由于延迟采样（无快门打开和关闭）而造成的数据偏差

测温范围：650至1300℃

重复精度0.01°C(seeTN-828) 金属表面测温高精度红外测温仪调试