智能穿戴可靠性测试
上海天梯检测——高压空载,低压限流态运行试验 测试说明: 高压空载运行是测试模块的损耗情况,尤其是带软开关技术的模块,在空载情况下,软开关变为硬开关,模块的损耗相应增大。低压满载运行是测试模块在较大输入电流时,模块的损耗情况,通常状态下,模块在低压输入、满载输出时,效率较低,此时模块的发热较为严重。 测试方法: A、将模块的输入电压调整为输入过压保护点-3V,模块的输出为较低输出电压,空载运行,此时,模块的占空比为较小,连续运行2小时,模块不应损坏; B、将模块的输入电压调整为欠压点+3V,模块的输出为较高输出电压的拐点状态,此时模块的占空比为较大,连续运行2小时,模块不应出现损坏可靠性试验的目的是什么?有哪些种类?智能穿戴可靠性测试
为了确认产品能在这些环境下正常工作,国标、行标都要求产品在环境方法模拟一些测试项目,上海天梯检测技术有限公司为客户提供以下可靠性测试服务: 高低温循环测试 恒温恒湿测试 交变湿热测试 低温存储测试 高温存储测试 高低温冲击测试 盐雾测试(Salt Spray Test) 开关电测试(Switch electrical test) 胶带附着力测试(The tape adhesion test) 振动测试随机/正弦(Vibration test) 包装箱自由跌落测试(Drop test) 元器件推拉力测试(Push And Pull) 蒸气老化测试(Steam Aging test) 元器件可焊性测试(Solderability test) IP等级防护测试 电源拉扭力测试 LED光衰寿命测试及认证 回焊炉试验 塑封芯片MSL等级测试led可靠性测试实验室可靠性测试的两个关键性能指标是什么?
振动测试 GB/T 2423.56 IEC 60068-2-64 ASTM D4728 … 冲击测试 GB/T2423.5 IEC60068-2-27 EIA-364-27 … 碰撞测试 IEC 60068-2-27 GB/T 2423.6 GB/T 4857.20 跌落测试 GB/T 2423.8 ISO 2248 GB/T 4857.5 RCA纸带摩擦测试 ASTM F 2357 酒精,橡皮,铅笔摩擦测试 GB/T 6739 ASTM D 3363 接触电阻测试 EIA-364-23 EIA-364-06 MIL-STD-202 绝缘电阻测试 EIA-364-21 MIL-STD-202 耐电压测试 EIA-364-20 MIL-STD-202 划格测试 ASTM D 3359 插拔力测试 EIA-364-13 耐久性测试 EIA-364-09 线材摇摆测试 EIA-364-41
材料可靠性测试 分析对各种环境状况的反应 对于许多产品和零组件来说,材料和可靠性测试是必须的,因为它证实了产品或材料如何应对挑战性的环境。在上海天梯检测,我们将可靠性测试方法分为四大类:气候环境测试、动态环境测试、工业及户外环境测试和机械压力测试。 我们的测试服务 气候环境测试:仿真不同的温度、湿度和气压组合。 动态环境测试:仿真运输、安装及使用环境对产品造成的压力。 工业及户外环境测试:模拟不同的户外场景,包括接触沙、尘、雨、水,暴露在阳光和紫外线中,以及被气体和风腐蚀。 机械压力测试:验证产品机械结构的强度。包括推拉测试、弯曲测试、扭曲测试、刺穿测试、连接器寿命/耐久性测试和染色/撬动测试。一般什么产品要做可靠性测试?
上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 15、IP防护等级(外壳防护试验): 外壳防护等级(IP代码):GB 4208-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验R:水试验方法和导则:GB/T 2423.38-2008 16、低温/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005 17、高温/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BFc:散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005 18、温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/ABMFh:温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合 19、温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合 可靠性测试具体怎么选择呢?电容可靠性测试费用
可靠性测试有哪些?怎么办理可靠性测试?智能穿戴可靠性测试
HALT(Highly Accelerated Life Test,高加速寿命试验)-HASS(Highly Accelerated Stress Screening,高加速应力筛选)、这是一种能够提高产品可靠性的测试手段,HALT/HASS 是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法,现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6 个月甚至1 年的新产品可靠性试验缩短至一周,且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致,故HALT/HASS 的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。在美国之外,许多国际的3C 电子产品大厂也都使用相同或类似的手法来提升产品质量。 HALT 是一种通过让被测物承受不同的应力、进而发现其设计上的缺限,以及潜在弱点的实验方法。加诸于产品的应力有振动,高低温,温度循环,电力开关循环,电压边际及频率边际测试等。HALT 应用于产品的研发阶段,能够及早地发现产品可靠性的薄弱环节。智能穿戴可靠性测试
上海天梯检测技术有限公司成立于2013年,总部设在上海交大金桥国家科技园,是中国合格评定国家认可委员会(CNAS)认可实验室(No. CNAS L7352),计量认证(CMA)认可实验室(170921341417),上海交大金桥科技园检测公共服务平台,上海市研发公共服务平台服务企业,上海市浦东新区科技服务机构发展促进会会员单位,上海市****。我们有前列的测试设备,专业的工程师及**团队。公司成立以来着重于产品的环境可靠性实验,材料性能实验,在汽车,造船,医疗,运输等行业为企业提供了专业的测试技术服务,坚持‘准确,及时,真实,有效,提升’的质量方针,凭过硬的检测技术和工作质量,向广大客户提供准确,高效的检测服务,我们的检测报告具有国际公信力,得到了23个经济体的37个国家和地区的客户认可。
上一篇: UV紫外线老化可靠性测试
下一篇: 上海高温可靠性测试项目