顺序式光谱仪使用步骤
X射线荧光光谱仪详细过程分解:一束带有足够能量的x射线打在样品表面原子壳内层的电子上,这个波长色散X射线荧光光谱仪内的x射线管产生的,这个波长色散X射线荧光光谱仪前底端射出。x射线束打在样品表面的原子壳上,电子被激发后从原子壳内层轨道发生位移,这种位移的发生是由于从分析仪发出的x-射线束与在适当的轨道保持电子结合能发出的能量差;当x射线束的能量高于电子结合能就会发生位移。当电子撞出轨道,他们留下的空位,使原子不稳定。原子必须立即被填充来纠正这个不稳定,这些空位可以由更高的轨道上的电子移动到一个较低的轨道。离原子核越远的电子,逃逸的能量越高。因此,当电子从较高电子层到靠近原子核的电子层时,要损失一些能量。损失的能量数与两个电子层间的能量差相等,由两个电子层的距离决定。样品中检测到个别荧光能量是特定的,为了确定每个存在元素的数量,个别能量出现的比例可以通过仪器计算出来,或用其它软件。X荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析。顺序式光谱仪使用步骤
X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法,任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性,所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X射线荧光实际上又是一个表面分析方法,激发只发生在试样的浅表面,必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外,样品的平均粒度和粒度分布是否有变化,样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作,还必须防止样品的损失和沾污。由样品制备和样品自身引起的误差:样品的均匀性。样品的表面效应。粉末样品的粒度和处理方法。样品中存在的谱线干扰。样品本身的共存元素影响即基体效应。样品的性质。标准样品的化学值的准确性。沈阳X射线光谱仪哪家便宜X射线荧光光谱仪通过侧里和分析样品产生的x射线荧光,即可获知样品中的元家组成。
X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。X荧光光谱仪技术原理:受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量,元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线。
X荧光光谱仪技术已成功应用于环境、食物链、动植物、农产品、人体组织细胞、生物医学材料、组织细胞、医学试剂、动植物、代谢产物中的无机元素测定。X荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射,通常是指能t范围在0.1^-100keV的光子。X射线光谱仪与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。X射线荧光光谱仪是由物质中的组成元素产生的特征辐射,通过侧里和分析样品产生的x射线荧光,即可获知样品中的元家组成,得到物质成分的定性和定量信息。使用注意事项:仪器会产生电离辐射,在测试时确保不要将仪器对着人;不要将仪器对着空气做测试;不要用手拿着样品做测试;在运作状态时,勿打开仪器的防护盖或勿将测试仪器对准人体;每次开启仪器和每连续工作4小时,须对仪器进行校验;严禁非专门的人员操作该仪器,操作时必须按照操作步骤进行,任何错误的操作,均会导致仪器的测试结果及使用寿命。X射线荧光光谱仪由三个主要部分组成,分别起激发、色散和探测的作用。
关于X荧光光谱分析误区避免:由于X射线荧光的能量比较大,样品被激发后,产生的特征X射线极易被吸收,而从样品中发射出来的荧光很少,也即是荧光产额很少。因此采用X荧光光谱仪测量微量元素,不是特长,因此不要把精力过分地放在低含量元素分析上。同理,对于轻元素,如硼、碳、氮、氧等,也不要指望有多好的检出限;但对于高含量的轻元素分析,却有很高的精度。有人曾分析生铁中3%左右的碳,标准偏差不超过0.1%;分析钼铁中60%左右的钼,误差不超过0.2%;分析硅石中90%左右的二氧化硅的含量,误差不超过0.3%等。而对微量元素,镁的检量限,低于0.01%,峰几乎没有了;钠,低于0.05%,峰也没了,连强度都没了还怎么测?由此说明X荧光光谱仪适合于高含量分析,而不适合微量元素的分析。X荧光光谱仪由于探测器性能的不同,在选用探测器时,就需要综合考虑多种因素。上海手持式X射线光谱仪哪里有
探测器是X荧光光谱仪很重要的一环,它的重要作用是接受和分辨信号。顺序式光谱仪使用步骤
X荧光光谱仪与直读光谱仪区别:两者分析原理的区别,直读火花光谱仪工作原理则是用电弧 (火花) 的高温使样品中各种元素从固态直接气化并被激发而射出各元素的特征波长,用光栅分光后,成为按波长排列的“光谱” ,这些元素的特征光谱线通过通过出射狭缝,射入各自的光电倍增管(或CCD固体检测器),光信号变成电信号,经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换,然后由计算机处理,并打印出各元素的百分含量。而 X荧光光谱仪工作原理介绍用X射线照射试样时, 试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的 X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。顺序式光谱仪使用步骤
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