多端口矩阵测试DDR3测试规格尺寸

多数电子产品，从智能手机、PC到服务器，都用着某种形式的RAM存储设备。由于相 对较低的每比特的成本提供了速度和存储很好的结合，SDRAM作为大多数基于计算机产品 的主流存储器技术被广泛应用于各种高速系统设计中。

DDR是双倍数率的SDRAM内存接口，其规范于2000年由JEDEC （电子工程设计发展 联合协会）发布。随着时钟速率和数据传输速率不断增加带来的性能提升，电子工程师在确 保系统性能指标，或确保系统内部存储器及其控制设备的互操作性方面的挑战越来越大。存 储器子系统的信号完整性早已成为电子工程师重点考虑的棘手问题。 DDR3一致性测试是否包括高负载或长时间运行测试？多端口矩阵测试DDR3测试规格尺寸

还可以给这个Bus设置一个容易区分的名字，例如把这个Byte改为ByteO,这样就把 DQ0-DQ7, DM和DQS, DQS与Clock的总线关系设置好了。

重复以上操作，依次创建：DQ8〜DQ15、DM1信号；DQS1/NDQS1选通和时钟 CK/NCK的第2个字节Bytel,包括DQ16〜DQ23、DM2信号；DQS2/NDQS2选通和时钟 CK/NCK的第3个字节Byte2,包括DQ24〜DQ31、DM3信号；DQS3/NDQS3选通和时钟 CK/NCK的第4个字节Byte3。

开始创建地址、命令和控制信号，以及时钟信号的时序关系。因为没有多个Rank, 所以本例将把地址命令信号和控制信号合并仿真分析。操作和步骤2大同小异，首先新建一 个Bus,在Signal Names下选中所有的地址、命令和控制信号，在Timing Ref下选中CK/NCK （注意，不要与一列的Clock混淆，Clock列只对应Strobe信号），在Bus Type下拉框中 选择AddCmd,在Edge Type下拉框中选择RiseEdge,将Bus Gro叩的名字改为AddCmdo。 海南DDR3测试芯片测试什么是DDR3一致性测试？

单击View Topology按钮进入SigXplorer拓扑编辑环境，可以按前面161节反射 中的实验所学习的操作去编辑拓扑进行分析。也可以单击Waveforms..按钮去直接进行反射和 串扰的布线后仿真。

在提取出来的拓扑中，设置Controller的输出激励为Pulse,然后在菜单Analyze- Preferences..界面中设置Pulse频率等参数，

单击OK按钮退出参数设置窗口，单击工具栏中的Signal Simulate进行仿真分析，

在波形显示界面里，只打开器件U104 (近端颗粒)管脚上的差分波形进行查看, 可以看到，差分时钟波形边沿正常，有一些反射。

原始设计没有接终端的电阻端接。在电路拓扑中将终端匹配的上拉电阻电容等电路 删除，再次仿真，只打开器件U104 (近端颗粒)管脚上的差分波形进行查看，可以看到， 时钟信号完全不能工作。

至此，DDR3控制器端各信号间的总线关系创建完毕。单击OK按钮，在弹出的提示窗 口中选择Copy,这会将以上总线设置信息作为SystemSI能识别的注释，连同原始IBIS文件 保存为一个新的IBIS文件。如果不希望生成新的IBIS文件，则也可以选择Updateo

设置合适的 OnDie Parasitics 和 Package Parasiticso 在本例中。nDie Parasitics 选择 None, Package Parasitics使用Pin RLC封装模型。单击OK按钮保存并退出控制器端的设置。

On-Die Parasitics在仿真非理想电源地时影响很大，特别是On-Die Capacitor,需要根据 实际情况正确设定。因为实际的IBIS模型和模板自带的IBIS模型管脚不同，所以退出控制器 设置窗口后，Controller和PCB模块间的连接线会显示红叉，表明这两个模块间连接有问题， 暂时不管，等所有模型设置完成后再重新连接。 何时需要将DDR3内存模块更换为新的？

DDR（Double Data Rate）是一种常见的动态随机存取存储器（DRAM）技术，它提供了较高的数据传输速度和带宽。以下是DDR系统的概述：

架构：DDR系统由多个组件组成，包括主板、内存控制器、内存槽和DDR内存模块。主板上的内存控制器负责管理和控制DDR内存模块的读写操作。数据传输方式：DDR采用双倍数据传输率，即在每个时钟周期内进行两次数据传输，相比于单倍数据传输率（SDR），DDR具有更高的带宽。在DDR技术中，数据在上升沿和下降沿时都进行传输，从而实现双倍数据传输。速度等级：DDR技术有多个速度等级，如DDR-200、DDR-400、DDR2-800、DDR3-1600等。速度等级表示内存模块的速度和带宽，通常以频率来表示（例如DDR2-800表示时钟频率为800 MHz）。不同的速度等级对应着不同的数据传输速度和性能。 DDR3一致性测试的目标是什么？内蒙古测试服务DDR3测试

在DDR3一致性测试期间能否继续进行其他任务？多端口矩阵测试DDR3测试规格尺寸

· 相关器件的应用手册，ApplicationNote：在这个文档中，厂家一般会提出一些设计建议，甚至参考设计，有时该文档也会作为器件手册的一部分出现在器件手册文档中。但是在资料的搜集和准备中，要注意这些信息是否齐备。

· 参考设计，ReferenceDesign：对于比较复杂的器件，厂商一般会提供一些参考设计，以帮助使用者尽快实现解决方案。有些厂商甚至会直接提供原理图，用户可以根据自己的需求进行更改。

· IBIS 文件：这个对高速设计而言是必需的，获得的方法前面已经讲过。 多端口矩阵测试DDR3测试规格尺寸

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