苏州量产芯片测试过程

时间:2022年07月20日 来源:

芯片封装后成品FT测试,常应用与功能测试、性能测试和可靠性测试中,检查芯片功能是否正常,以及封装过程中是否有缺陷产生,并且帮助在可靠性测试中用来检测经过“火雪雷电”之后的芯片是不是还能工作。系统级SLT测试,常应用于功能测试、性能测试和可靠性测试中,常常作为成品FT测试的补充而存在,顾名思义就是在一个系统环境下进行测试,就是把芯片放到它正常工作的环境中运行功能来检测其好坏,缺点是只能覆盖一部分的功能,覆盖率较低所以一般是FT的补充手段。 芯片测试的过程是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电气特性。苏州量产芯片测试过程

芯片测试座的三大作用:芯片测试座检查在线的单个元器件以和各电路网络的开、短路情况,具有操作简单、故障定位准确,快捷迅速等特点。简单点描述就是一个连接导通的插座;

作用一:来料检测,采购回来的IC在使用前有时会进行品质检验,找出不良品,从而提高SMT的良品率。IC的品质光凭肉眼是看不出来的,必须通过加电检测,用常用的方法检测IC的电流、电压、电感、电阻、电容也不能完全判断IC的好坏;通过IC测试夹具应用功能跑程序,可以判断IC的好坏。

作用二:返修检测,有时生产过程中主板出了问题,倒底是哪里出了问题?不好判断!有了IC测试治具什么都好说,把拆下的IC放到测试座内通过测试就能排除是否IC方面的原因。

作用三:IC分检,返修的IC,在拆下的过程有可能损坏,用IC测试治具可以将坏的IC分检出来,可以节省很多人力、物力,从而减小各项成本。拿BGA封装的IC来说,如果IC没有分检,坏的IC贴上经过FCT测试检查出来后,把IC拆下来,要烘烤、清洗,很麻烦,还有可能损坏相关器件。用IC测试夹具检测就可以大减少出现上述问题的机率。​
苏州自动化芯片测试哪家好从服务客户为理念,为客户提供芯片测试服务。

开短路测试(又称OPEN/SHORT 测试,O/S测试),主要是用于测试电子器件的连接情况,顾名思义,开短路测试就是测试开路与短路,具体点说就是测试一个电子器件应该连接的地方是否连接,如果没有连接上就是开路,如果不应该连接的地方连接了就是短路。   用途:开短路测试应用非常的普遍,例如:测试PCB板,测试IC邦定线,测试IC的封装,测试线材,测试FPC,测试薄膜开关,测试连接器等等,不同的应用又有比较特别的需求,例如,测试PCB板是不仅要测试开短路,还要测试漏电,测薄膜开关还要测试连线的电阻值;对于线材测试仪,比较精密的线材根据要求,有些也要测试漏电与阻值及其他的要求,由于这些测试不仅要测试开短路,还要测试其他的参数,因此都有专门使用的仪器,如ICT,薄膜开关测试仪,线材测试仪等

探针台  1)晶圆检测需具备多套视觉精密测量及定位系统,并具备视觉相互标定、多个坐标系互相拟合的功能;2)探针台精度要求非常严苛,重复定位精度要求达到0.001mm(微米)等级;3)探针台对设备工作环境洁净度要求较高,除需达到几乎无人干预的全自动化作业,对传动机构低粉尘提出要求,还需具备气流除尘等特殊功能。4)晶圆检测对于设备稳定性要求较高,各个执行器件均需进行多余度的控制,晶圆损伤率要求控制在1ppm(百万分之一)以内;拥有良好的作业环境,ISO管理模式,各种先进的烧录测试设备。

设计公司主要目标是根据市场需求来进行芯片研发,在整个设计过程中,需要一直考虑测试相关的问题,主要有下面几个原因:1)随着芯片的复杂度原来越高,芯片内部的模块越来越多,制造工艺也是越来越先进,对应的失效模式越来越多,而如何能完整有效地测试整个芯片,在设计过程中需要被考虑的比重越来越多。2)设计、制造、甚至测试本身,都会带来一定的失效,如何保证设计处理的芯片达到设计目标,如何保证制造出来的芯片达到要求的良率,如何确保测试本身的质量和有效,从而提供给客户符合产品规范的、质量合格的产品,这些都要求必须在设计开始的时候就要考虑测试方案。3)成本的考量。越早发现失效,越能减少无谓的浪费;设计和制造的冗余度越高,越能提供产品的良率;同时,如果能得到更多的有意义的测试数据,也能反过来提供给设计和制造端有用的信息,从而使得后者有效地分析失效模式,改善设计和制造良率。 我司主要从事半导体集成电路测试+烧录代工服务。MCU芯片测试

拥有各类芯片烧录+测试能力。苏州量产芯片测试过程

芯片融合时代:测试也要“上天”过去简单的电子技术就可以满足的需求,如今可能需要人工智能、机器学习、无人驾驶、医疗仪器、基础设施扩建等多元覆盖实现。终端应用领域对于半导体技术的要求亦呈指数增长。因此,半导体元器件必须具备极高的可靠性,半导体测试设备对于供应链的价值也由此变得更加重要。对应迅速更新迭代的智能世界,先进制程升级要求半导体检测技术快速迭代,因而对于ATE机台来说,平台通用化、模块化、灵活性高、可升级是未来技术发展的大趋势。系统级测试(SLT,systemleveltest)、大数据分析、ATPG编程自动化等,都是测试领域应对未来半导体市场发展面临的挑战,这需要测试设备厂商有超前的技术眼光,随时跟进市场需求。苏州量产芯片测试过程

信息来源于互联网 本站不为信息真实性负责