中温黑体炉现场测试

    随着科学技术的发展，黑体的用途已经不局限于在温度计量方面的应用。在光学方面，已经普遍采用黑体作为标准辐射源和标准背景光源。在测量领域里，黑体已经用于测量材料的光谱发射、吸收和反射特性。在高能物理的研究中，黑体已经用作为产生中子源。不同的用途对黑体的要求是不一样的。在温度计量领域，主要是利用黑体辐射和温度的对应关系，因此要求黑体的发射率越高越好。要求黑体的辐射能量按照光谱分布(也就是黑体光谱辐射能量、也称为单色能量)都能符合普朗克定律，这样我们在检定或校准辐射温度计时，以黑体的温度(或标准辐射温度计)的示值，来修正辐射温度计的偏差。因此在选择黑体时通常是选择发射率较高的腔式黑体，同时也要注意黑体腔口直径，温度均匀性和辐射温度不确定度。 CS500黑体炉控温方便，升温速度快，温度均匀性好，性能优异。中温黑体炉现场测试

BR系列黑体辐射源，温度控制采用PID控制技术，具有精度高、稳定性好的特点。温度校准和修正方便。BR1450中高温黑体辐射源/黑体炉温度范围宽广，由100～1450℃内任意一温度点皆可随需要调整。稳定、重复的校正面板让使用者能快速而准确地校正及测试红外线高温计(红外测温仪)。黑体开孔直径Φ32mm的面积，适用大部份的红外线高温计(红外测温仪)。系统另有RS-232或485的计算机通讯接口方便计算机控制设定温度及自动测试。功能特点：●温度范围：100～1450℃●采用自动升温控温方式、安全可靠、温度稳定性好、使用操作方便●使用双排数字显示测量值及设定值●紧凑而坚固的设计、集校准与测试的完美结合高温黑体炉检修超大面源黑体炉在行业内属于亟待突破的关键标定设备，是受到限制的“卡脖子”难题。

对于测试和研究中所采用的黑体，是根据需要设计，种类繁多。用于材料光谱发射率测量的黑体，是一个界于腔式黑体和面源黑体之间的黑体，发射面只有Φ10mm。用于辐射温度仪器中定点校准用的黑体，是一个定温度的辐射能量很稳定的光源。在****系统使用的黑体中**小只有小手指大，因此称为指状黑体；为了模拟目标，在一个平面上分隔成多个不同温度区域的**面源黑体称为目标模拟器。等等。——简易黑体对于红外热像仪检测或校准时，特别是对于辐射率低，如光亮反射或低频率物体，或不明的物体的温度测量，可通过黑体漆或黑体胶带来确定其辐射率，从而达到准确测温的目的。

选用测温仪，要注意辐射路径的吸收。因为可以测的范围很广，所以可以针对不同的吸收情况，选择合适的波长。在高温区，测量金属材料的比较好波长是近红外，可选用0.8～1.0um。其他温区可选用1.6μm、2.2μm、3.9μm。在低温测量应用中，通常用Ge或Si材料作为窗口，不透可见光，人眼不能通过窗口观察目标。如操作员需要通过窗口目标，应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料，如应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料，如ZnSe或BaF2等作为窗口材料。红外测温仪必须经过标定才能使它正确地显示出被测目标的温度。一般的红外测温的校准周期是一年，建议选用腔形，发射率达到0.99的黑体炉，才能准确的校准红外测温仪CS120黑体炉控温方便，升温速度快，温度均匀性好，性能优异。

黑体作为标准红外辐射源，它的光谱能量是可以通过计算而获得。红外系统校准、各种材料发射率的测定、红外探测器响应率的测定、红外测温仪、红外热像仪、红外遥感机载星辐射计等仪器的标定，都要使用黑体。BR系列黑体辐射源，温度控制采用PID控制技术，具有精度高、稳定性好的特点。温度校准和修正方便。BR400中温黑体辐射源/黑体炉温度范围宽广，由环温+10℃～400℃内任意一温度点皆可随需要调整。稳定、重复的校正面板让使用者能快速而准确地校正及测试红外线高温计(红外测温仪)。黑体开孔直径Φ125mm的面积，适用大部份的红外线高温计(红外测温仪)。系统另有RS-232或485的计算机通讯接口方便计算机控制设定温度及自动测试。一般面源黑体炉的温度范围只能做到500摄氏度以下，管式黑体则可以比较容易做到2000度以上。低温黑体炉样品

温度范围低于室温，或者高于500℃以上的黑体炉一般采用腔体式构造。中温黑体炉现场测试

我国南北环境温差大，且测量现场一般条件比较简陋，不可能提供黑体炉或其他的校准工具。以下提供三种现场操作方法供大家参考：方法一，现场有接触式高精度温度计（精度必须高于红外测温仪），可以用来调整发射率：首先，用接触式温度计测量物体表面温度得出参考值。然后，使用红外测温仪测量物体得出表面测量温度，根据差异调整测温仪的发射率直至温度接近或等于参考值。应注意的是，因为两种温度计存在精度等多方面差异，因此红外测温仪只要保证在自身精度范围内即可。为确保红外测温仪的准确和稳定性，应定期及时同校准装置进行校准对比。中温黑体炉现场测试