手持式局部放电测量精度

时间:2024年10月22日 来源:

2.1.6带数据库功能,***的测试结果分析,用户可通过后端软件,配合各功能按键,分析波形中每点、每段的电阻值和每段的时间、各时间段的时间及三相不同期等,通过分析,可了解切换过程中,每个瞬间三相开关各种参数的变化情况,也可将波形打印、存贮及查阅历史波形进行分析和对比。2.1.7智能化程度高,方便现场参数快速输入,测试更为便捷。2.1.8自创的***分析系统,可以自动诊断OLTC的状态。2.1.9分体式结构,主控计算机通过网络或者USB对测试主机进行控制;一体式结构,内置大屏幕的三防级工控型电脑。2.1.10六路**且完全隔离的16bit高精度高速同步测试通道。2.1.11采用先进的软硬件抗干扰技术,保证测试的稳定性和准确性。局放不达标的危害有哪些?手持式局部放电测量精度

手持式局部放电测量精度,局部放电

在GIS制造、装配、运输以及运行过程中,由于加工不良、碰撞、冲击、分合操作等因素,其内部会产生绝缘缺陷。在试验电压或额定电压作用下,当绝缘缺陷处集中的电场强度达到该区域的击穿场强时,就会出现局部放电现象。局部放电是GIS绝缘劣化的主要原因,也是GIS绝缘故障的先兆。因此,在线监测局部放电信号可在故障前监测出绝缘缺陷,是确保GIS以及电力系统安全稳定运行的重要手段。随着我国电力工业的发展,对电力设备的局部放电研究的要求越来越高,也越来越精细和量化。GZTR-S型GIS局部放电监测教研装置是我公司结合市场需求而专项研制,可在实验室内模拟GIS内部各种单一和不同组合的缺陷,获得反映各种绝缘缺陷的局部放电实验数据,并可实现对GIS内绝缘缺陷的局部放电模式识别,适用于局部放电监测教学、科研等工作。GZTR-S装置具有体积小、重量轻、不受气候变化的影响、用户使用方便、电晕极小等优点,是电力系统局部放电试验、教学、科研所必需的设备,对开展局部放电的带电监测技术研究、提高专业技术人员积累监测经验、掌握监测技术具有十分重要的现实意义。手持式局部放电监测技术参数什么是局部放电?杭州国洲电力科技有限公司帮你解答。

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局部放电的增加通常意味着绝缘材料的劣化,可能是由以下几种机制引起的:电树放电:绝缘材料中的微小缺陷(如气泡、裂纹或杂质)在电场作用下形成电树。电树的生长会改变绝缘材料的电场分布,导致局部放电活动加剧。介质断裂:长期的电应力作用可能导致绝缘材料中的化学键断裂,形成导电通路,从而引起局部放电。表面老化:绝缘表面由于环境因素(如氧化、水解)的影响,可能会形成导电层或污染物,这些都可能成为局部放电的源头。内部缺陷发展:绝缘材料内部的微裂纹或空洞在电场作用下可能扩展,形成放电通道。

9、平均无故障时间:大于50,000小时;10、安全性能:符合GB/T19862-2005开关柜监测设备通用要求;11、电磁兼容:静电放电抗扰度满足GB/T17626.2-20064级;阻尼振荡波抗干扰度满足GB/T17626.10-19983级;工频磁场抗扰度满足GB/T17626.8-20063级;脉冲磁场抗扰度满足GB/T17626.9-19983级;12、电源:采用5V电锂电池供电,功耗<10W,可持续工作12小时以上;13、环境条件:存储温度:-40℃~+85℃;工作温度:-20℃~+60℃;相对湿度:5%~95%在35℃下无凝露;14、重量轻、易携带,很适合现场使用;手持式HUB重量轻于0.8kg由于局部放电脉冲信号是一个很微弱的信号,现场电磁干扰会对测量结果产生很大的误差,因此很难准确测量。

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长期以来,进行变压器/电抗器OLTC的测试一直采用直流方法测试,所获取的波形与OLTC制造商例行测试波形进行比对,对OLTC现场测试起到了一定作用。由于OLTC制造商在车间例行测试是对裸开关进行测试,现场是变压器带绕组进行的测试,两者差异很大。直流方法测试受测试技术方法和技术能力限制,现场OLTC测试有时会出现波形无法判读等问题,各方面工程技术人员争议很大,表现在以下几个方面:2.2.1直流测试法*适用于绕组中性点处并有中性点抽出的OLTC测试,对绕组中性点以外其它位置(线端、中部等)处的OLTC及单相变压器OLTC不能测试。2.2.2直流测试由于其测试原理、技术能力等原因,有时测试获取的波形与制造商给出的波形差异较大,无法给出准确分析结论,OLTC反复吊出检查与测试,影响新设备、大修后设备投运。为防止OLTC事故,甚至将无法判定OLTC是否存在缺陷的变压器改做无载调压变压器运行。2.2.3部分直流测试波形异常无法判定OLTC动作特性正常,以制造商质量承诺投入运行,不能保证OLTC的安全运行。2.2.4变压器设计上新技术采用,以及电抗式、真空断路器式等的OLTC使用,直流测试方法无法完全满足现场测试需要。2.3交流测试法的特点GZPD-4D系列分布式局部放电监测与评价系统构成及功能参数。低压局部放电干扰

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局部放电(PD)是电力设备绝缘老化过程中的重要表征之一,它与绝缘材料的老化有着密切的联系。随着设备的运行和时间的推移,绝缘材料会因为热应力、电应力、机械应力、环境因素(如温度、湿度、化学腐蚀等)以及紫外线照射等原因发生老化。绝缘老化会导致材料性能下降,局部电场分布不均,从而增加局部放电的发生概率和强度。

局部放电与绝缘老化的关系研究通常包括以下方面:局部放电特性的长期跟踪监测,以了解其随时间的变化趋势。局部放电信号的定量分析,包括放电脉冲的数量、形状、幅度和能量等参数。绝缘老化机理的实验研究,通过加速老化试验来模拟和研究绝缘材料的劣化过程。绝缘老化模型的建立,利用统计分析和数据挖掘技术来预测绝缘材料的老化寿命和局部放电行为。预防性维护策略的制定,基于局部放电监测和绝缘老化评估结果来优化设备的维护和更换计划。 手持式局部放电测量精度

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