泰州体视显微镜
测量振荡微悬臂的振幅或相位变化,也可以对样品表面进行成像。摩擦力显微镜摩擦力显微镜(LFM)是在原子力显微镜(AFM)表面形貌成像基础上发展的新技术之一。材料表面中的不同组分很难在形貌图像中区分开来,而且污染物也有可能覆盖样品的真实表面。LFM恰好可以研究那些形貌上相对较难区分、而又具有相对不同摩擦特性的多组分材料表面。一般接触模式原子力显微镜(AFM)中,探针在样品表面以X、Y光栅模式扫描(或样品在探针下扫描)。聚焦在微悬臂上的激光反射到光电检测器,由表面形貌引起的微悬臂形变量大小是通过计算激光束在检测器四个象限中的强度差值(A+B)-(C+D)得到的。反馈回路通过调整微悬臂高度来保持样品上作用力恒定,也就是微悬臂形变量恒定,从而得到样品表面上的三维形貌图像。而在横向摩擦力技术中,探针在垂直于其长度方向扫描。检测器根据激光束在四个象限中,(A+C)-(B+D)这个强度差值来检测微悬臂的扭转弯曲程度。而微悬臂的扭转弯曲程度随表面摩擦特性变化而增减(增加摩擦力导致更大的扭转)。激光检测器的四个象限可以实时分别测量并记录形貌和横向力数据。选显微镜厂家,有品牌保证,用的放心-茂鑫显微镜供应。泰州体视显微镜
▽电子衍射光路示意图来源:《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]▽单晶氧化锌电子衍射图▽无定形氮化硅电子衍射图▽锆镍铜合金电子衍射图来源:《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]6设备厂家世界上能生产透射电镜的厂家不多,主要是欧美日的大型电子公司,比如德国的蔡司(Zeiss),美国的FEI公司,日本的日立(Hitachi)等。7疑难解答lTEM和SEM的区别:当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。扫描电镜收集二次电子和背散射电子的信息,透射电镜收集透射电子的信息。SEM制样对样品的厚度没有特殊要求,可以采用切、磨、抛光或解理等方法特定剖面呈现出来,从而转化为可观察的表面;TEM得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度,因此样品观测部位要非常的薄,一般为10到100纳米内,甚至更薄。l简要说明多晶(纳米晶体),单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理:单晶花样是一个零层二维倒易截面,其倒易点规则排列,具有明显对称性,且处于二维网格的格点上。东营多功能显微镜找哪家显微镜厂家-茂鑫-提供品质显微镜厂家!
DM8000M徕卡金相显微镜主要用来观察金相组织的专业仪器,是专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。DM8000M系列采用高产能8寸晶元检查及缺陷分析系统,只要一指按键您就可以切换放大倍率,照明模式或相衬模式。徕卡金相显微镜DM8000M提供了全新的光学设计,如理想的宏观检查模式或者倾斜紫外光(OUV,随检UV选择)不但提高了分辨能力,同时也增加了观察8’’/200毫米直径大样品时的产量。该机照明基于新的LED科技,一体化整合在显微镜机身上。低热辐射效应和一体化内置技术确保了显微镜四周空间具有理想化的空气环流。LED的超长使用寿命和低能耗特性降低了用户今后的使用成本.。只要一指按键您就可以切换放大倍率,照明模式或相衬模式。徕卡金相显微镜DM8000M为您带来的优势有:视野扩大四倍以上极限分辨率视野扩大四倍以上宏观放大功能使您可以比传统扫描物镜多看四倍以上的视野。极限分辨率全新的倾斜紫外模式(OUV)在紫外光基础上结合了倾斜光设计理念,确保您可以从任何角度都得到可见物理光学的极限分辨率。人机工程学设计非常适合长时间在显微镜上工作,直观操作适应任何程度的使用者。
金相显微镜的使用注意事项:1.操作时必须特别谨慎,不能有任何剧烈的动作,不允许自行拆卸光学系统。2.严禁用手指直接接触显微镜镜头的玻璃部分和试样磨面。若镜头上落有灰尘,会影响显微镜的清晰度与分辨率。此时,应先用洗耳球吹去灰尘和砂粒,再用镜头纸或毛刷轻轻擦拭,以免直接擦试时划花镜头玻璃,影响使用效果。3.切勿将显微镜的灯泡(6~8V)插头直接插在220V的电源插座上,应当插在变压器上,否则会立即烧坏灯泡。观察结束后应及时关闭电源。4.在旋转粗调(或微调)手轮时动作要慢,碰到某种阻碍时应立即停止操作,报告指导教师查找原因,不得用力强行转动,否则会损坏机件。金相显微镜是专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。这些不透明物体无法在普通的透射光显微镜中观察,因此金相和普通显微镜的主要差别在于前者以反射光,而后者以透射光照明。在金相显微镜中照明光束从物镜方向射到被观察物体表面,被物面反射后再返回物镜成像。这种反射照明方式也用于集成电路硅片的检测工作。茂鑫代理徕卡品牌光学仪器,包括徕卡显微镜,徕卡金相显微镜,徕卡体视显微镜。
5.力-距离曲线——简称力曲线SFM除了形貌测量之外,还能测量力对探针-样品间距离的关系曲线Zt(Zs)。它几乎包含了所有关于样品和针尖间相互作用的必要信息。当微悬臂固定端被垂直接近,然后离开样品表面时,微悬臂和样品间产生了相对移动。而在这个过程中微悬臂自由端的探针也在接近、甚至压入样品表面,然后脱离,此时原子力显微镜(AFM)测量并记录了探针所感受的力,从而得到力曲线。Zs是样品的移动,Zt是微悬臂的移动。这两个移动近似于垂直于样品表面。用悬臂弹性系数c乘以Zt,可以得到力F=c·Zt。如果忽略样品和针尖弹性变形,可以通过s=Zt-Zs给出针尖和样品间相互作用距离s。这样能从Zt(Zs)曲线决定出力-距离关系F(s)。这个技术可以用来测量探针尖和样品表面间的排斥力或长程吸引力,揭示定域的化学和机械性质,像粘附力和弹力,甚至吸附分子层的厚度。如果将探针用特定分子或基团修饰,利用力曲线分析技术就能够给出特异结合分子间的力或键的强度,其中也包括特定分子间的胶体力以及疏水力、长程引力等。图(force-separationcurve)特征。微悬臂开始不接触表面(A),如果微悬臂感受到的长程吸引或排斥力的力梯度超过了弹性系数c,它将在同表面接触之前。显微镜-厂家直销-价格优惠-欢迎来电上海茂鑫。宁波显微镜批发
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