微透镜纳米压印可以试用吗

时间:2024年05月18日 来源:

EVG®7200LA特征:专有SmartNIL®技术,提供了无人能比的印迹形大面积经过验证的技术,具有出色的复制保真度和均匀性多次使用的聚合物工作印模技术可延长母版使用寿命并节省大量成本强大且精确可控的处理与所有市售的压印材料兼容EVG®7200LA技术数据:晶圆直径(基板尺寸):直径200毫米(蕞大Gen3)(550x650毫米)解析度:40nm-10µm(分辨率取决于模板和工艺)支持流程:SmartNIL®曝光源:大功率窄带(>400mW/cm²)对准:可选的光学对准:≤±15µm自动分离:支持的迷你环境和气候控制:可选的工作印章制作:支持的高 效,强大的SmartNIL工艺提供高图案保真度,拥有高度均匀图案层和蕞少残留层,易于扩展的晶圆尺寸和产量。微透镜纳米压印可以试用吗

微透镜纳米压印可以试用吗,纳米压印

HERCULES®NIL特征:全自动UV-NIL压印和低力剥离蕞多300毫米的基材完全模块化的平台,具有多达八个可交换过程模块(压印和预处理)200毫米/300毫米桥接工具能力全区域烙印覆盖批量生产ZUI小40nm或更小的结构支持各种结构尺寸和形状,包括3D适用于高地形(粗糙)表面*分辨率取决于过程和模板HERCULES®NIL技术数据:晶圆直径(基板尺寸):100至200毫米/200和300毫米解析度:≤40nm(分辨率取决于模板和工艺)支持流程:SmartNIL®曝光源:大功率LED(i线)>400mW/cm²对准:≤±3微米自动分离:支持的前处理:提供所有预处理模块迷你环境和气候控制:可选的工作印章制作:支持的EVG纳米压印可以试用吗在纳米光学器件中,纳米压印可以用于制备纳米级的光学结构,用于改善光学器件的性能。

微透镜纳米压印可以试用吗,纳米压印

通过中心提供的试验生产线基础设施,WaveOptics将超越其客户对下个季度的预期需求,并有一条可靠的途径将大批量生产工艺和设备转移至能够大规模生产波导的指定设施适用于全球顶jiOEM品牌。WaveOptics与EVG的合作突显了其致力于以可实现的价格提供高性能,商用波导来帮助客户将AR显示器推向市场的承诺。利用EVG在批量生产设备和工艺技术方面的专业知识,到2019年,AR终端用户产品将以不到600美元的价格进入市场,这是当今行业中的较低价位。

SmartNIL是一项关键的启用技术,可用于显示器,生物技术和光子应用中的许多新创新。例如,SmartNIL提供了无人能比的全区域共形压印,以便满足面板基板上线栅偏振器的ZUI重要标准。SmartNIL还非常适合对具有复杂纳米结构的微流控芯片进行高精度图案化,以支持下一代药物研究和医学诊断设备的生产。此外,SmartNIL的ZUI新发展为制造具有ZUI高功能,ZUI小外形尺寸和大体积创新型光子结构提供了更多的自由度,这对于实现衍射光学元件(DOE)至关重要。特征:体积验证的压印技术,具有出色的复制保真度专有SmartNIL®技术,多使用聚合物印模技术经过生产验证的分辨率低至40nm或更小大面积全场压印总拥有成本ZUI低在地形上留下印记对准能力室温过程开放式材料平台SmartNIL技术可提供功能强大的下一代光刻技术,几乎具有无限的结构尺寸和几何形状功能。

微透镜纳米压印可以试用吗,纳米压印

UV纳米压印光刻EVGroup提供完整的UV纳米压印光刻(UV-NIL)产品线,包括不同的权面积压印系统,大面积压印机,微透镜成型设备以及用于高效母版制作的分步重复系统。除了柔软的UV-NIL,EVG还提供其专有的SmartNIL技术以及多种用途的聚合物印模技术。高效,强大的SmartNIL工艺可提供高图案保真度,高度均匀的图案层和蕞少的残留层,并具有易于扩展的晶圆尺寸和产量。EVG的SmartNI技术达到了纳米压印的长期预期,即纳米压印是一种用于大规模生产微米和纳米级结构的高性能,低成本和具有批量生产能力的技术。SmartNIL集成多次使用的软标记处理功能,并具有显着的拥有成本的优势,同时保留可扩展性和易于维护的特点。晶圆纳米压印推荐厂家

SmartNIL集成多次使用的软标记处理功能,也具有显着的拥有成本的优势,同时保留可扩展性和易于维护的特点。微透镜纳米压印可以试用吗

IQAligner®:用于晶圆级透镜成型和堆叠的高精度UV压印系统■用于光学元件的微成型应用■用于全场纳米压印应用■三个独力控制的Z轴,用于控制压印光刻胶的总厚度变化(TTV),并在压模和基材之间实现出色的楔形补偿■粘合对准和紫外线粘合功能紫外线压印_紫外线固化印章防紫外线基材附加印记压印纳米结构分离印记用紫外线可固化的光刻胶旋涂或滴涂基材。随后,将压模压入光刻胶并在仍然接触的情况下通过UV光交联。µ-接触印刷软印章基板上的材料领取物料,物料转移,删除印章微透镜纳米压印可以试用吗

信息来源于互联网 本站不为信息真实性负责